For a metrizable space X, concepts of metric convergence in measure and of functional convergence in measure of sequences of measurable mappings taking their values in X are introduced and applied to a comparison of compactifications of X.
PL
Dla przestrzeni metryzowalnej X, wprowadza się pojęcia metrycznej zbieżności według miary i funkcyjnej zbieżności według miary ciągów odwzorowań mierzalnych, przyjmujących swe wartości w X oraz stosuje się te pojęcia do porównywania uzwarceń przestrzeni X.
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.