Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: uszkodzenia Pattern Sensitive Faults (PSF)

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Efektywne wykrywanie uszkodzeń PSF oparte o zmianę adresacji w iteracyjnym procesie testowania pamięci RAM

Mrozek I.

Logistyka

2011

nr 6

Artykuł przedstawia propozycję zastosowania testów typu March do efektywnego wykrywania uszkodzeń złożonych (uszkodzeń wiążących zależnością wiele komórek pamięci) występujących w pamięci RAM. Proponowana idea pozostawia niezmienione wartości w testowanym układzie po zakończeniu sesji testowej. Może zatem być używana do cyklicznego testowania pamięci podczas normalnej pracy urządzeń elektronicznych zawierających pamięć RAM. Przedstawiana technika pozwala z bardzo wysokim prawdopodobieństwem wykryć wszystkie istniejące w pamięci uszkodzenia złożone. Zastosowanie w proponowanej idei testów typu March gwarantuje również wykrycie wszystkich uszkodzeń prostych znajdujących się w pamięci.

This paper develops the new solution for memory testing based on transparent memory tests in terms of pattern sensitive faults detection. Previous research has outlined that the only march tests can be in use now to test modern memory chips. Their transparent versions are very efficient for the simple fault diagnoses. The solution has been proposed in this paper dealing with the extension of known algorithms for the case of pattern sensitive faults. Using march test according to the proposed technique it is possible to detect pattern sensitive memory faults with a very high probability.