Wyniki wyszukiwania - BazTech

1

Zagadnienia korozji stykowej w urządzeniach elektrotechnicznych eksploatowanych w różnych warunkach atmosferycznych. Sposób ochrony

Głuszko M.

Przegląd Elektrotechniczny

|

2010

|

R. 86, nr 10

349-353

PL

Urządzenia i aparaty elektrotechniczne eksploatowane w warunkach atmosferycznych narażone są na oddziaływanie agresywnych środowisk korozyjnych. Ze względu na złożoną konstrukcję tych urządzeń szczególnie niebezpieczne jest występowanie intensywnej korozji galwanicznej w miejscach nieprawidłowo dobranych stykowych połączeń metali. W artykule podano tabelaryczne zestawienie zalecanych, dopuszczalnych i niedopuszczalnych stykowych połączeń metali i wybranych powłok metalicznych. Pozwala ono na wyeliminowanie zjawiska korozji galwanicznej stykowych połączeń metali już na etapie projektowania urządzeń i aparatury. Najwyższą trwałość urządzeń elektroenergetycznych zapewnia dobór zalecanych połączeń stykowych metali.

EN

Electrical devices and apparatus are exploited in corrosion aggressive atmospheric environments. On account of their complex construction occurrence of intensive galvanic corrosion of wrong selected contact joints of construction metals is particularly hazardous. In the article is given table of recommended, permissible and intolerable connections of contacting construction metals and selected metallic coatings. It allows to eliminate of galvanic corrosion effect already on the designing step of electrical devices. The highest durability of this devices is assured by selection of recommended joints of contacting metals.

2

Anticorrosive Protection Experiences by Electronic and Electrotechnical Repairs Management

Liptak P., Hladek M., Bella V.

Mechanika / Akademia Górniczo-Hutnicza im. St. Staszica

|

2001

|

T. 20, z. 2

205-210

EN

This paper presents operational experiences of repairment, storage, preconversation and revision with all-nation activity in the field of time and enviroment negative effect on electronic and electrotechnical devices with special emphasis on the devices contact and connection elements. The first and the second part deals with untraditional review of anticorrosive protection application achieved results with respect with respect to all-nation activity position possibilities. At the paper's end we may find generalization of results with respect to machinery and sources economical operation reguirements and quality requirements.

PL

W artykule przedstawiono zagadnienia eksploatacji dotyczące napraw, magazynowania, zabezpieczania wstępnego i przeglądów w gospodarce narodowej w zakresie negatywnego oddziaływania na środowisko urządzeń elektronicznych i elektrotechnicznych ze szczególnym uwzględnieniem elementów kontaktowych i łączników. Pierwsza i druga część artykułu opisuje wpływ czasu i środowiska na wspomniane elementy ich rozmieszczenia. Natomiast trzecia, czwarta i piąta przedstawia wyniki osiągnięte w zakresie stosowania zabezpieczeń antykorozyjnych. W zakończeniu podano uogólnienia wyników eksperymentu z uwzględnieniem wymagań ekonomicznych, materiałowych oraz jakości w zagadnieniach eksploatacji maszyn.

3

Specyfika badań kompatybilności elektromagnetycznej urządzeń elektrotechnicznych

Galla J. S., Hartman M., Zimmermann K.

Zeszyty Naukowe. Elektryka / Politechnika Łódzka

|

1999

|

z. 93

95--102

PL

W artykule opisano specyficzne, dodatkowe wymagania, jakie muszą być spełnione w badaniach kompatybilności elektromagnetycznej urządzeń elektrotechnicznych o prądach znamionowych powyżej 16 A. Jako przykład wybrano następujące badania: - odporność na udary napięciowe 1,2/50 μs, - odporność na szybkie zakłócenia impulsowe - odporność na napięcia indukowane o częstotliwościach radiowych w zakresie 0,15 do 230 MHz, - pomiar emisji napięć zakłóceń przewodzonych w zakresie 0,15 do 30 MHz. - pomiar zawartości harmonicznych w prądach fazowych. Opisano stanowiska badawcze do wymienionych wyżej prób ze szczególnym uwzględnieniem sieci sprzęgająco - odsprzęgających na prądy znamionowe powyżej 16 A oraz wymagań dotyczących źródeł zasilania. Przedstawiono stanowiska do badań urządzeń elektrotechnicznych w Laboratorium EMC Oddziału Instytutu Elektrotechniki w Gdańsku.

EN

The article discusses the issue of specific additional requirements which need to be met during EMC tests of electrotechnical equipment with input current of above 16 A per phase, this problems have been described in this paper. As a example the following tests: - surge 1,2/ 50 μs immunity test, - fast transient/burst immunity test, - immunity to conducted disturbances induced by radio frequency fields, in frequency range of 0,15 MHz to 230 MHz., - voltage disturbance emission measurements, - harmonics measurement, have been chosen and analysed. Discussed are test set-ups used for the aforementioned tests with special attention paid to coupling- decoupling networks for currents rated above 16 A. Requirements for power supply have also been laid out in detail. Test set-ups for electrotechnical equipment as used in the EMC laboratory of the Gdansk Branch of Electrotechnical Institute were also described.

4

Matematyczne modelowanie wymiany ciepła w urządzeniach elektrotechnicznych

Kucypera S.

Zeszyty Naukowe Katedry Mechaniki Stosowanej / Politechnika Śląska

|

1998

|

z. 7

183-188

PL

Przedstawiono założenia modelu matematycznego pola temperatury w prostopadłościennych kanałach symulujących kanały modułowe w urządzeniach elektronicznych. Model zweryfikowano poprzez porównanie wyników uzyskanych za pomocą opracowanego modelu z wynikami pomiarów. Podano krótki opis geometrii kanałów oraz wykonano analizę wpływu niektórych parametrów pracy (np . rozkładu generowanego strumienia ciepła, strumienia masy chłodziwa i współczynnika wnikania ciepła) , a także niedokładnośc i określenia zewnętrznych warunków chłodzenia na temperaturę złącz półprzewodnikowych.

EN

The assumptions of the mathematical model of the temperature field in the cuboidals channels, which simulate the moduls chanels in the electronics devices have been presented. The results from the described mathematical model have been compared with the measurments results. The short description of the geometry chanels has been given and the influence of some parameters of the work (eg. the distribution of the generated heat-flux, mass-flow of coolant and heat-transfer coefficient) and imprecise determinig of the external cooling conditions on the semiconductor junctions temperature has been analysed.