Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

Znaleziono wyników: 2

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: uogólniona transformata Hougha

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Algorithm for precise frontal face detection

Kawulok M., Szymanek J.

Studia Informatica

2009

Vol. 30, nr 2A

341-354

The paper presents an algorithm for frontal face detection. At first a set of face candidates is selected based on ellipse detection with the Hough transform. Subsequently, every candidate is verified and for positive verification the detection precision is improved, which is particularly important for face recognition purposes. Results of conducted experiments, which are discussed in the paper, confirm high speed and effectiveness of the algorithm.

Artykuł opisuje algorytm detekcji twarzy frontalnych. W pierwszym etapie przeprowadzana jest detekcja elips za pomocą transformaty Hougha, mająca na celu wyłonienie zbioru kandydatów na twarze. Następnie każdy z kandydatów jest weryfikowany i w przypadku pozytywnej weryfikacji stosowane są zabiegi podnoszące precyzję detekcji. W artykule zostały przedstawione wyniki badań eksperymentalnych potwierdzające wysoką skuteczność i szybkość działania algorytmu.

On Algorithms for Indexing of K-line Diffraction Patterns

Morawiec A., Bieda M.

Archives of Metallurgy and Materials

2005

Vol. 50, iss. 1

47-56

Thanks to the progress in computer control of electron microscopes and in microscope cameras there is a strong trend towards automatic analysis of electron diraction patterns. Such analysis allowed for creation of fully automatic orientation imaging — an important technique of investigation of polycrystalline materials. Two essential parts of the analysis are the indexing of the patterns and the determination of orientations. We are particularly concerned with systems using transmission electron microscopy (TEM) and Kikuchi patterns; with small solid angle covered by these patterns, indexing is a challenging problem. The indexing procedures are expected to be fast and reliable even in the presence of experimental errors in geometric parameters of the patterns. The first step towards optimal indexing is to formalize the problem. It is shown that indexing can be reduced to matching two sets of points: “Two point sets G and H are given. Determine a rotation carrying the largest subset of G to a position approximating a subset of H”. Some new algorithms solving this problem are proposed. They are based on the generalized Hough transform with the rotation space as the parameter space. In the simplest case, a pair of points - one point from each set — contributes to rotations along a curve in the rotation space. After contributions are made by all pairs, the cell in the rotation space which received the largest number of contributions is considered to represent the orientation of the crystallite. Once the orientation is known, one can easily assign Miller indices to reflections.

Dzięki postępowi w komputerowym sterowaniu mikroskopami elektronowymi i unowocześnieniu kamer do tych mikroskopów istnieje silna tendencja do rozwijania automatycznej analizy elektronowych obrazów dyfrakcyjnych. Taka analiza pozwala na tworzenie w pełni automatycznych map orientacji — ważnej techniki badania materiałów polikrystalicznych. Dwiema istotnymi kwestiami w tej analizie jest indeksowanie obrazów dyfrakcyjnych i wyznaczanie orientacji. Szczególnym wyzwaniem jest indeksowanie obrazów dyfrakcyjnych Kikuchi’ego powstałych w transmisyjnym mikroskopie elektronowym. Procedury indeksujące powinny być szybkie i skuteczne nawet w przypadku błędów eksperymentalnych wpływających na parametry geometryczne tych obrazów. Formalne ujęcie problemu jest pierwszym krokiem do zoptymalizowania procedur indeksujących. Pokazano, że problem może zostać sprowadzony do porównania dwóch zbiorów punktów: „Dane sa dwa zbiory GiH. Zadaniem jest wyznaczenie obrotu, który przekształca najwiekszy podzbiór zbioru G w podzbiór zbioru H z pewnym błedem aproksymacji”. Zaproponowano nowe algorytmy rozwiązujące ten problem. Bazują one na uogólnionej transformacie Hougha z przestrzenią obrotów jako przestrzenia parametrów. W najprostszym przpadku, para punktów — po jednym z każdego zbioru — głosuje na obroty położone wzdłuż krzywej w przestrzeni obrotów. Po tym jak każda para „oddała” swój głos, przyjmuje sie, ze komórka w przestrzeni obrotów, która uzyskała najwiekszą liczbę głosów reprezentuje orientacje krystalitu. Jeżeli znana jest orientacja łatwo można przyporządkować refleksom indeksy Millera .