PL
 |
EN
Preferencje help
Polish version English version Język
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników

Znaleziono wyników: 6

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
Wyszukiwano:
w słowach kluczowych:  układy optoelektroniczne
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
1
Content available remote Zastosowanie światłowodowych czujników odbiciowych do pomiaru przemieszczeń w ruchomych strukturach MEMS
Gołębiowski J., Guzowski B., Milcarz Sz.
Przegląd Elektrotechniczny
|
2012
|
R. 88, nr 10b
117-119
PL
Pokazano konstrukcję natężeniowego światłowodowego czujnika odbiciowego do pomiaru przemieszczeń w ruchomych strukturach MEMS. Przedstawiono system pomiarowy oraz wyniki pomiarów. Analizowano wpływ konstrukcji i parametrów czujnika oraz układu pomiarowego na charakterystyki wyjściowe ze szczególnym uwzględnieniem zmian współczynnika odbicia.
EN
The construction of intensity optical fiber reflectance sensor used for measuring displacements of the movable MEMS structures was shown. The measurement system and the measurement results were presented. The influence of the construction and the parameters of the sensor as well as the measurement system on the output characteristics with particular emphasis on the changes in refractive index was analyzed.
2
Content available remote Microelectromechanical Transducer with Optical Readout for Magnetic Flux Density Measurements
Gołębiowski J.
Przegląd Elektrotechniczny
|
2012
|
R. 88, nr 5a
22-25
EN
The silicon cantilever with the planar coil was applied to the magnetic flux density measurements. The optoelectronic device for the measure of cantilever bending was presented and described.A coil is supplied any the direct current. The magnetic field intensity change causes the beam end displacement and changes the angle of cantilever bending. The dependence of the cantilever and external magnetic field parameters as well on the angle of the cantilever bending was investigated and analyzed.
PL
Przedstawiono mikroelektromechaniczny przetwornik z belkę krzemową i płaską cewką do pomiaru indukcji pola magnetycznego. Cewka zasilana jest ze źródła prądu stałego. Opisano system optoelektroniczny do pomiaru ugięcia belki. Zmiany natężenia pola magnetycznego powodują przemieszczenie końca belki i zmianę kąta ugięcia belki. Analizowano wpływ parametrów uzwojenia na rozkład generowanego pola magnetycznego w celu optymalizacji konstrukcji cewki.
3
Content available remote Mikromechaniczny krzemowy przetwornik pola magnetycznego
Gołębiowski J., Gozdur R., Majocha A.
Przegląd Elektrotechniczny
|
2011
|
R. 87, nr 9a
56-59
PL
Przedstawiono mikromechaniczny system do pomiaru indukcji pola magnetycznego. W systemie zastosowano mikrobelkę krzemową z warstwą ferromagnetyczną. Analizowano wpływ parametrów belki oraz oddziaływanie zewnętrznego pola magnetycznego na kąt ugięcia belki. Zaprezentowano układ optoelektroniczny do pomiaru ugięcia belki.
EN
The micromechanical device dedicated to measuring the magnetic induction is presented in this paper. A micromechanical silicon cantilever with a ferromagnetic surface layer is applied in the system. The authors analyzed the influence of cantilever parameters and external magnetic field on the angle of cantilever bending. The optoelectronics device for measure the cantilever bending is presented.
4
Rozwój techniki światłowodowej w kraju 2009-2011
Dorosz J., Romaniuk R.
Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
|
2011
|
Vol. 52, nr 4
109-113
PL
W artykule przedstawiono rozważania na temat kierunków rozwoju techniki światłowodowej w kraju w ostatnim czasie (lata 2009-2011) na podstawie materiałów naukowych i technicznych nadesłanych na XIII Krajowe sympozjum pt. Światłowody i ich zastosowania, które odbyło się w Białymstoku i Białowieży w dniach 26-29 stycznia 2011. Sympozjum zgromadziło ok. 80 osób z uczelni i jednostek badawczo-rozwojowych. Przedstawiono łącznie ok. 60 prac przyczynkowych oraz 6 referatów plenarnych. Tematyka Sympozjum dotyczyła: materiałów dla optoelektroniki, technologii światłowodów, elementów i układów optoelektronicznych, metrologii światłowodów oraz elementów i układów optoelektronicznych, zastosowań światłowodów, zastosowań źródeł DEL. Poprzednie XII sympozjum światłowodowe odbyto się w Krasnobrodzie w październiku 2009, a następne XIV odbędzie się ponownie w Krasnobrodzie w październiku 2012.
EN
The paper presents considerations concerning the development directions of optical fiber technology in Poland during the last period (2009-2011) basing on the research and technical material submitted to the XIIIth National Symposium on Optical Fibers and Their Applications, which was held in Biatystok and Biatowieza on 26-29 January 2011. The symposium has gathered more than 80 persons from academia and industry. There were presented 60 papers and 6 plenary presentations. Subjects of the symposium were: materials for optoelectronics, technologies of optical fibers, optoelectronic components and circuits, metrology of optical fibers and optoelectronic components, applications of optical fibers and DELs. The previous XIIth symposium was held in Krasnobrod in October 2009 and the next one XIVth will be also in Krasnobrod in October 2012.
5
Problematyka sprzęgania wiązek światła do światłowodów planarnych na podłożach ceramicznych LTCC
Tadaszak R.
Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
|
2011
|
Vol. 52, nr 10
85-87
PL
Technologia grubowarstwowa oparta na ceramice LTCC pomimo, iż jest doskonale znana ciągle się rozwija i znajduje zastosowania w nowych dziedzinach. Jednym z najbardziej interesujących i najszybciej rozwijanych trendów są urządzenia wykorzystujące w swoim działaniu sygnał optyczny. Pozwala on nie tylko zwiększać szybkości działania układów, poprawiać ich niezawodność, ale także może być wykorzystywanym jako medium niosące informację o zmianach w układach czujnikowych. Autor w przedstawionym artykule przedstawia problemy jakie niosą ze sobą zarówno pomiary w bardzo małych strukturach optycznych integrowanych w LTCC, jak i sama integracja źródeł światła i detektorów. Przedstawione zostają metody charakteryzacji światłowodów planarnych wytwarzanych w technologii zol-żel i opracowywanych przez autora w ramach jego studiów doktoranckich.
EN
Thick film microsystems based on LTCC technology still evolve and are used in new applications. One of the most interesting and fastest growing are devices with optical components and structures like waveguides. Thanks to using photons beside electrons, device could be faster and more reliable. Moreover, light could be used as a information medium in sensors with optical detection. In this paper author presents some difficulties which were met during light beam coupling and light sources and detectors integration to the LTCC structures. Methods of characterization of a very thin planar optical waveguides used by author are presented as well.
6
Optoelektronika w Instytucie Systemów Elektronicznych PW
Helsztyński J., Romaniuk R. S., Jędrzejewski K. P., Lewandowski. R., Późniak K. T., Wawrzyniak Z. M., Jasiewicz W.
Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
|
2009
|
Vol. 50, nr 8
153-156
PL
Optoelektronika coraz częściej określana terminem fotonika, jest szeroką dyscypliną nauki i techniki oraz dziedziną przemysłu. W kraju początkowo rozwijała się w kilku ośrodkach uczelnianych. Dzisiaj obecna jest na wszystkich uczelniach i wielu instytutach resortowych, rozwija się krajowy przemysł fotoniczny. W artykule dokonano syntetycznego przeglądu wybranych prac z dziedziny optoelektroniki i techniki światłowodowej prowadzonych w ISE PW.
EN
Optoelectronics, being replaced by the broader and more recent term photonics, is today an extensive branch of science, technology and industry. It started to be developed in this country in a few institutes at universities. Today, it is present at all universities and industrial institutes. The national photonics industry started to enter into a developmental phase. The paper reviews concisely chosen work in Optoelectronics and optical fiber technology at the IES of WUT.
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.