Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: układy cyfrowe sprzężone pojemnościowo

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Zastosowanie magistrali testującej IEEE 1149.6 do diagnostyki układów cyfrowych sprzężonych pojemnościowo

Bartosiński B.

Zeszyty Naukowe Wydziału ETI Politechniki Gdańskiej. Technologie Informacyjne

2007

T. 14

625-632

W pracy przedstawiono magistralę ułatwionego testowania standardu IEEE 1149.6 przeznaczoną do diagnostyki złożonych układów cyfrowych sprzężonych pojemnościowo. Zaprezentowano metody transmisji sygnałów cyfrowych o b. wysokich częstotliwościach, a następnie przedstawiono rozwiązania kluczowych elementów magistrali: komórkę brzegowego rejestru wyjściowego z nadajnikiem sygnałów testowych oraz detektor sygnałów różnicowych o sprzężeniu pojemnościowym. Omówiono zestaw instrukcji testujących magistrali. Przedstawiono rodzaje uszkodzeń wykrywane z wykorzystaniem magistrali oraz zaprezentowano przykłady komercyjnych układów wyposażonych w magistralę.

The paper describes the IEEE 1149.6 test bus designed for complex AC coupled digital networks diagnostics. Methods of transmission of very-high-frequency digital signals are presented, then follows a presentation of solutions for key elements of the test bug: a boundary scan output register cell with a test-signal generator and a detec-tor of differential signals with ac coupling. A list of bus testing instructions is discussed. A set of potential defects detected with the use of the bus is presented, along with examples of commercial circuits equipped with a bus.