Przedstawiono podstawowe zagadnienia pomiaru właściwo- ści układów mikro- i nanoelektromechanicznych (micro- and nanoelectromechanical systems – MEMS/NEMS) przeznaczonych do wysokorozdzielczych obserwacji zmian masy i siły w zakresie mniejszym niż 1 ng i 1 pN.
EN
In the presented paper we discuss high resolution and sensitivity measurement method used in the characterization of modern micro- and nanoelectromechanical systems (MEMS, NEMS), which are foreseen to perform mass detection and force investigations in the range from 1 ng and 1 pN.
2
Dostęp do pełnego tekstu na zewnętrznej witrynie WWW
Nanoukłady elektromechaniczne (NEMS) znajdują zastosowanie w różnego rodzaju detektorach i czujnikach. Często wykorzystuje się przejście tych układów od drgań stabilnych do niestabilnych. Tematem pracy jest analiza stabilności dwu nieliniowych nanoukładów elektromechanicznych. Obszary niestateczności są przedstawione na wykresach.
EN
Nano-electro-mechanical systems (NEMS) are applicable to various detectors and sensors. Transition between stable and unstable vibrations of these systems is frequently used. Analysis of stability of two nonlinear nanosystems is the subject of the paper. Instability regions are presented on graphs.
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.