Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników

Znaleziono wyników: 2

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
Wyszukiwano:
w słowach kluczowych:  układy NEMS
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
1
Content available remote Postępy nanometrologii układów MEMS/NEMS
PL
Przedstawiono podstawowe zagadnienia pomiaru właściwo- ści układów mikro- i nanoelektromechanicznych (micro- and nanoelectromechanical systems – MEMS/NEMS) przeznaczonych do wysokorozdzielczych obserwacji zmian masy i siły w zakresie mniejszym niż 1 ng i 1 pN.
EN
In the presented paper we discuss high resolution and sensitivity measurement method used in the characterization of modern micro- and nanoelectromechanical systems (MEMS, NEMS), which are foreseen to perform mass detection and force investigations in the range from 1 ng and 1 pN.
PL
Nanoukłady elektromechaniczne (NEMS) znajdują zastosowanie w różnego rodzaju detektorach i czujnikach. Często wykorzystuje się przejście tych układów od drgań stabilnych do niestabilnych. Tematem pracy jest analiza stabilności dwu nieliniowych nanoukładów elektromechanicznych. Obszary niestateczności są przedstawione na wykresach.
EN
Nano-electro-mechanical systems (NEMS) are applicable to various detectors and sensors. Transition between stable and unstable vibrations of these systems is frequently used. Analysis of stability of two nonlinear nanosystems is the subject of the paper. Instability regions are presented on graphs.
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.