Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

2 2005

Powiadomienia systemowe

Sesja wygasła!

Znaleziono wyników: 2

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: tunneling microscopy

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Geometrical and electronic properties of ultra thin epitaxial metal nanowires on flat and vicinal Si surfaces

Pfnür H., Zielasek V., Tegenkamp C., Block T., Kallassy Z.

Materials Science Poland

2005

Vol. 23, No. 4

861--876

The study of metallic low-dimensional nanoscale systems requires the generation of ultra-small structures. We demonstrate the feasibility of the formation of metallic wires of arbitrary shape with a lateral width below 10 nm and a thickness from one to several monolayers using a combination of electron beam lithography in ultra-high vacuum and tunnelling microscopy. These methods can be easily combined with surfaces structured by self-organization. As an example, a system consisting of Pb on Si(557) is discussed. It exhibits quasi one-dimensional conduction properties already with one Pb monolayer, which undergoes a temperature-driven structural phase transition, switching the system between high and low conductance anisotropy.

Mikroskopia sił "shear force" w badaniu topografii i właściwości emisyjnych powierzchni

Sikora A., Gotszalk T., Szeloch R.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

2005

Vol. 46, nr 2-3

67-68

W pracy przedstawiono modularny mikroskop bliskich oddziaływań "shear force" i tunelowy, umożliwiający lokalne badanie topografii oraz właściwości emisyjnych z powierzchni. Zaprezentowano przykładowe wyniki pomiarów.

In this article a modular near field-shear force microscope combined with tunneling microscope. Presented setup can be used for local electrical surface properties investigation. Some measurements results will be presented.