Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

Powiadomienia systemowe

Sesja wygasła!

Znaleziono wyników: 2

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: tranzystor MOS dwubramkowy

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Simulation framework and thorough analysis of the impact of barrier lowering on the current in SB-MOSFETs

Schwarz M., Calvet L. E., Snyde J. P., Krauss T., Schwalke U., Kloes A.

International Journal of Microelectronics and Computer Science

2017

Vol. 8, nr 2

72--79

In this paper we present a simulation framework to account for the Schottky barrier lowering models in SBMOSFETs within the Synopsys TCAD Sentaurus tool-chain. The improved Schottky barrier lowering model for field emission is considered. A strategy to extract the different current components and thus accurately predict the on- and off-current regions are adressed. Detailed investigations of these components are presented along with an improved Schottky barrier lowering model for field emission. Finally, a comparison for the transfer characteristics is shown for simulation and experimental data.

Modelowanie wybranych efektów krótkiego kanału w dwubramkowym tranzystorze MOS

Sawicka A., Łukasiak L., Jakubowski A.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

2008

Vol. 49, nr 9

123-126

Przeanalizowano wpływ uwzględnienia efektów krótkiego kanału (zależność napięcia progowego od długości kanału, modulacja długości kanału, zwiększenie gęstości ładunku w kanale indukowane napięciem drenu) na dokładność modelowania charakterystyk prądowo-napięciowych dwubramkowego tranzystora MOS. Dokładność opracowanego modelu zweryfikowano na podstawie porównania z rezultatami symulacji numerycznych przeprowadzonych za pomocą programu ATLAS.

The influence of incorporation of selected short-channel effects (dependence of threshold voltage on channel length, channel-length modulation, drain-induced charge enhancement) on the accuracy of modeling the I-V characteristics of a DG MOSFET was analyzed. The accuracy of the developed model was verified by means of a comparison with ATLAS simulations.