Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

1 2006

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: transparentne testy krokowe

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Optymalne adresowanie pamięci przy wykorzystaniu usterek uwarunkowanych zawartością (PSF)

Sokół B., Yarmolik S.V.

Pomiary Automatyka Kontrola

2006

R. 52, nr 6 bis

41-43

Celem niniejszej publikacji jest zaprezentowanie nowych algorytmów i technik testowania pamięci bazując na transparentnych testach pamięci. Niniejsza publikacja dotyczy problemu wykrywania usterek pamięci uwarunkowanych zawartością (ang. pattern sensitive faults - PSF). Zawarte w pracy informacje pokazują efektywność użycia testów krokowych przy wykrywaniu pasywnych usterek PSF (passive pattern sensitive faults PPSF). Zbadano efektywność wielokrotnego użycia testów krokowych do wykrywania wyżej wymienionych usterek PPSF oraz przeanalizowano optymalny wybór adresu startowego.

The goal of this paper is to propose new algorithms and techniques for memory testing based on transparent memory tests. This paper deals with memory pattern sensitive faults detection problem. It shows the efficiency of using march tests for detection memory passive pattern sensitive faults. Also it shows the efficiency of multiple runs of march tests for detection PPSF's and analyzes the optimal address seeds.