Wyniki wyszukiwania - BazTech

1

Wykorzystanie testów symetrycznych w transparentnym testowaniu pamięci RAM

Mrozek I.

Logistyka

|

2012

|

nr 3

PL

Artykuł przedstawia strategię testowania pamięci wykorzystywaną w technice BIST opartą o symetryczne testy pamięci. Technika symetrycznych testów pamięci gwarantuje, iż proces testowania odbywa się w niezwykle efektywny i szybki sposób. Jej wykorzystanie pozwala zmniejszyć złożoność procesu testowania o około 30% w porównaniu ze standardową metodą testowania transparentnego opartą o sygnaturę odniesienia. Fakt ten ma niezwykle istotne znaczenie jeśli weźmie się pod uwagę bieżące i przyszłe rozmiary uzywanych pamięci.

EN

Computer systems play a significant role almost in each area of life. Therefore we have to ensure their correct working. One of the most important components of each computer system is its memory. So, it is very important to identify a memory fault as soon as it occurs. Memory fault can take place at any time. Therefore we have to test the memory while booting system and periodical when the computer system is in use. In the first case (sometimes in the second case too) we can use a non-transparent memory test, in second case we should use transparent memory test. In this paper we would like to present symmetric version of transparent memory tests which allow us to reduce about 30% the time of the process of memory testing in comparing with the standard non symmetric methods.

2

MPS(3N) transparent memory test for Pattern Sensitive Fault detection

Mrozek I., Busłowska E., Sokół B.

Metody Informatyki Stosowanej

|

2008

|

nr 4 (Tom 17)

129--138

EN

Conventional memory tests based on only one run have constant and low faults coverage especially for Pattern Sensitive Faults (PSF). To increase faults coverage the multiple run March test algorithms have been used. As have been shown earlier the key element of multiple run March test algorithms are memory backgrounds. Only in a case of optimal set of backgrounds the high fault coverage can be achieved. For such optimal backgrounds the analytical calculation of NPSFk fault coverage for 3 and 4 runs of MPS(3N) test in this paper is presented. All of the analytical calculations are confirmed and validated by adequate experiments.

3

Optymalne adresowanie pamięci przy wykorzystaniu usterek uwarunkowanych zawartością (PSF)

Sokół B., Yarmolik S.V.

Pomiary Automatyka Kontrola

|

2006

|

R. 52, nr 6 bis

41-43

PL

Celem niniejszej publikacji jest zaprezentowanie nowych algorytmów i technik testowania pamięci bazując na transparentnych testach pamięci. Niniejsza publikacja dotyczy problemu wykrywania usterek pamięci uwarunkowanych zawartością (ang. pattern sensitive faults - PSF). Zawarte w pracy informacje pokazują efektywność użycia testów krokowych przy wykrywaniu pasywnych usterek PSF (passive pattern sensitive faults PPSF). Zbadano efektywność wielokrotnego użycia testów krokowych do wykrywania wyżej wymienionych usterek PPSF oraz przeanalizowano optymalny wybór adresu startowego.

EN

The goal of this paper is to propose new algorithms and techniques for memory testing based on transparent memory tests. This paper deals with memory pattern sensitive faults detection problem. It shows the efficiency of using march tests for detection memory passive pattern sensitive faults. Also it shows the efficiency of multiple runs of march tests for detection PPSF's and analyzes the optimal address seeds.