PL
 |
EN
Preferencje help
Polish version English version Język
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
Wyszukiwano:
w słowach kluczowych:  tip technology
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
1
Content available remote Moving from micro- to nanoworld in optical domain scanning probe microscopy
Radojewski J.
Bulletin of the Polish Academy of Sciences. Technical Sciences
|
2006
|
Vol. 54, nr 1
25-32
EN
In the article we described the evolution of optical technology tram lens-type microscopes working in far-field to SNOM (Scanning Near-Field Optical Microscopy) constructions. We considered two systems elaborated in our laboratory, namely PSTM system (photon Scanning Tunelling Microscope) and SNOM system. In both systems we obtained subwavelength resolution. Same details about optical point probe technology in both systems are given and experimental results presented.
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.