Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

1 Tribologia

1 2020

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: tin coatings

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Influence of Corrosion Processes on Friction And Wear of Tin Coatings of Wire Connectors

Grygier Dominika, Kowalewski Piotr, Radzińska Angelika

Tribologia

2020

nr 6

13--19

The paper describes the results of metallographic, tribological, and microscopic tests of wire connectors. It was shown that the structure and thickness of the tin layer on the copper element varies greatly. The paper describes the results of tribological investigations for electrical connectors in the initial state and covered with a layer of oxides formed as a result of corrosion. The results of tribological tests have shown a great influence of the oxide layer on friction and wear of tin coatings. The results of friction factor measurements were confirmed by microscopic observations. The tests confirmed that the oxide layer reduces plastic deformation of the tin coating and limits its tribological wear. Due to the brittleness and low adhesion of the oxide layer, friction-induced chipping was observed.

W pracy opisano wyniki badań metalograficznych, tribologicznych i mikroskopowych końcówek wiązek elektrycznych, tzw. końcówek konektorowych. Wykazano duże zróżnicowanie struktury i grubości warstwy cynowej na elemencie wykonanym z miedzi. W pracy opisano wyniki badań tribologicznych dla końcówek konektorowych w stanie wyjściowym i pokrytych warstwą tlenków powstałych na skutek korozji. Wyniki badań tribologicznych wykazały duży wpływ warstwy oksydacyjnej na proces tarcia i zużywanie powłok cynowych. Wyniki pomiarów współczynnika tarcia potwierdzono obserwacjami mikroskopowymi. Wykazano, że warstwa tlenków zmniejsza deformację plastyczną powłoki cynowej i ogranicza jej zużywanie tribologiczne. Ze względu na kruchy charakter i małą przyczepność warstwy tlenkowej zaobserwowano wykruszanie się jej spowodowane tarciem.