Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

Znaleziono wyników: 3

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: time-interval measurement

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Review of single-stage time-interval measurement modules implemented in FPGA devices

Zieliński M.

Metrology and Measurement Systems

2009

Vol. 16, nr 4

641-647

High resolution Time Interval Measurement Systems [TIMS] can be applied in experimental physics, ultrasonic flow meters, distance meters, or clock period meters. In this paper the problem of single-stage, high resolution TIMS design and implementation in programmable CMOS FPGA devices is discussed. Different architectures of TIMS are compared. Moreover, main parameters of TIMS, such as resolution, double pulse resolution, nonlinearity and sensitivity to temperature fluctuation are also discussed.

Influence of the clock signal phase fluctuation on the precision of time-interval measurement

Zieliński M., Kowalski M., Grzelak S., Chaberski D., Frankowski R.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

2006

Vol. 47, nr 1

50-52

Random clock signal phase fluctuations and their influence on the precision of time-interval measurement are described in this paper. The construction of time-interval measurement system [TIMS] and its application for oscillator phase fluctuations measurement are discussed. The new metrological parameters useful for estimations of the precision of TIMS as function of the measuring range are proposed.

W artykule opisano w jaki sposób przypadkowe fluktuacje sygnału zegarowego wpływają na dokładność pomiaru odcinka czasowego. Przedstawiono budowę systemu pomiaru odcinka czasowego oraz pokazano sposób jego wykorzystania do oceny fluktuacji fazowych generatora zegarowego. Zaproponowano nowe parametry dla określenia stopnia oddziaływania fluktuacji fazowych na system pomiaru odcinka czasowego i ich wpływ na dokładność pomiaru w zależności od wielkości zakresu pomiarowego.

High resolution time-interval measuring module with Vernier scale

Zieliński M., Grzelak S., Chaberski D., Frankowski R., Kowalski M.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

2005

Vol. 46, nr 2-3

68-70

A method for the improving resolution of a time-interval measuring system implemented in a single FPGA structure is discussed. In this method the period of the standard oscillator is adjusted to the single tap delay. In this way the Vernier scale can be obtained and the system resolution can be significantly increased. A new time-interval measuring module with a Vernier scal (TIMMV) of resolution equal to 318.8 ps.

Opisano metodę poprawy rozdzielczości systemu pomiaru odcinka czasowego implementowanego w pojedynczej strukturze FPGA. Metoda polega na dopasowaniu okresu sygnału wzorcowego do opóźnienia segmentu linii opóźniającej. W ten sposób uzyskuje się skalę pomocniczą (noniuszową) i rozdzielczość systemu może być zwielokrotniona. Zaprezentowano nowy moduł pomiaru odcinka czasowego z noniuszową skalą (TIMMV) o rozdzielczości równej 318,8 ps.