There were studied optical properties of polymeric films of poly(N-vinylcarbazole) (PVK), polycarbonate (PC), polystyrene (PS) and films of these polymers modified with SiC nanoparticles of size between 20 and 30 nm. Thin polymeric films were deposited on glass plates with spin coating method, using polymer solution in tetrahydrofuran (THF). In order to determine optical parameters of these new materials, the reflection spectrum was examined in the range between 350 and 860 nm, using a reflection probe and an integrating sphere. In order to determine the thickness of examined films, ellipsometric measurements were performed. The examination demonstrated that a small content of SiC nanoparticles in polymers changes the refractive index of the sample without causing its optical heterogeneity. But an increasing content of nanoparticles causes their aggregation, which strengthens light diffusion.
PL
Badano właściwości optyczne cienkich warstw polimerowych poli(N-winylokarbazolu) (PVK), poliwęglanu (PC) oraz polistyrenu (PS) oraz warstw tych polimerów modyfikowanych nanocząstkami SiC o wymiarach rzędu 20-30 nm. Cienkie warstwy polimerów nanoszono na płytki szklane metodą powlekania wirowego stosując roztwór polimeru w tetrahydrofuranie (THF). Do wyznaczenia parametrów optycznych tych nowych materiałów przeprowadzono badania widm odbicia w zakresie 350-860 nm z użyciem sondy odbiciowej i sfery integrującej. W celu wyznaczenia grubości badanych warstw, wykonano pomiary elipsometryczne. Badania wykazały, że niewielka zawartość nanocząstek SiC w polimerach zmienia współczynnik załamania światła próbki, nie powodując przy tym optycznej niejednorodności (tabela 1, rys. 1 i 2). Jednak zwiększanie zawartości nanocząstek powoduje ich agregację, co skutkuje wzmocnieniem rozpraszania światła (rys. 3 i 4).
2
Dostęp do pełnego tekstu na zewnętrznej witrynie WWW
The optical reflection measurements of polyvinylocarbazole (PVK) and polyazomethine (PPI) thin films have been done by means of optical profilometry (OP) exhibiting many advantages in surface and subsurface investigations. The obtained OP images clearly demonstrate that the thickness of the polymer films under investigation is not uniform over their lateral dimensions. For the PVK thin film, the fast Fourier transform (FFT) in the inverse space of the OP image is also presented along with distribution of the surface highs.
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.