Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

Znaleziono wyników: 2

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: thin layer transducer

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Zakłócenia piezoelektryczne w pomiarach ciśnienia czujnikami cienkowarstwowymi w styku EHD

Wilczek A.

Zagadnienia Eksploatacji Maszyn

2007

Vol. 42, nr 4

97-106

Przedmiotem pracy jest identyfikacja i wpływ zakłóceń piezoelektrycznych przy pomiarach czujnikami cienkowarstwowymi w styku EHD. Styk EHD tworzą dwie współpracujące stalowe rolki. Na jednej z nich wykonano czujnik ciśnienia z dwoma umieszczonymi obok siebie przetwornikami o różniących się geometriach. Warstwy izolacyjne czujnika wykonano z SiOx (1

The purpose of the present work is the identification and characterization of piezoelectric interference effects by measurements using thin layer transducers in an EHD contact. This latter is created by two contacting steel rollers. A pressure transducer with two different in shape converters was placed close to each other on one side of the rollers. The isolation layer of transducer was made with SiOx (1

Wpływ konstrukcji czujnika cienkowarstwowego na dokładność pomiaru ciśnienia w styku EHD

Wilczek A.

Zagadnienia Eksploatacji Maszyn

2007

Vol. 42, nr 4

79-96

Przeprowadzono analizę konstrukcji czujników cienkowarstwowych stosowanych do pomiaru ciśnienia w styku EHD i opracowano elektryczny model obwodowy i matematyczny czujnika. W modelu tym wyróżniono rezystancję przewodzącej warstwy przetwornika, pojemność tej warstwy do podłoża i elementu współpracującego oraz indukcyjność obwodu. Założono, że warstwy izolacyjne czujnika wykazują efekt piezoelektryczny. Przeprowadzone badania wykazały, że przy krótkim czasie przejścia czujnika przez strefę styku, niekorzystnym kształcie warstwy przetwornika i niekorzystnych parametrach układu pomiarowego zakłócenia pojemnościowe i piezoelektryczne mogą mieć istotny wpływ na wynik pomiaru.

An analysis was made for the construct of a thin layer based transducer which will be used to measure the pressure in EHD contact as well as a electrical circumferential and mathematical model was elaborated. In this model we distinguished the resistance of conducting layer of the converter, the capacitance of the layer to the substrate and the co-working element as well the circuit inductance. It was assumed that the isolation layers of the transducer exhibit a piezoelectric effect. The conducted research work demonstrated that for short transition times of the transducer by the contact zone, unacceptable layer shape of the converter and unacceptable parameters of the measuring system for capacitive interference can have a real effect on the obtained result.