PL
 |
EN
Preferencje help
Polish version English version Język
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników

Znaleziono wyników: 3

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
Wyszukiwano:
w słowach kluczowych:  thin films optics
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
1
Content available remote Niestandardowe metody optyczne w badaniach powierzchni elektrochemicznie spasywowanego stopu Ti6Al7Nb
Wolska N., Jaglarz J, Szewczenko J
Ochrona przed Korozją
|
2016
|
nr 3
74--78
PL
Celem pracy jest przedstawienie możliwości zastosowania metod optycznych do wyznaczenia parametrów topograficznych powierzchni stopu Ti przed i po procesie pasywacji, jak również określenie wpływu wstępnych obróbek modyfikujących powierzchnie stopu na grubość tworzonych warstw pasywnych. Zastosowana w niniejszej pracy metodyka pomiarowa, wykorzystująca klasyczne i niestandardowe techniki badań optycznych, pozwoliła na wyznaczenie grubości warstw, chropowatość, długość autokorelacyjną i inne parametry statystyczne opisujące topografię powierzchni. Zaletą przedstawionych niestandardowych technik jest ich nie-inwazyjność i bezkontaktowość.
EN
The aim of this work is presentation of optical techniques applied for the measurements of topographic parameters of Ti alloy before and after its passivation, as well as determination of the influence of pre-treatment methods on the thickness of passive films. The applied methodology is non destructive and it includes standard and non-standard optical techniques to determine the thickness, roughness, autocorrelation length and other statistic parameters of film. Advantage of presented non-standard techniques is their non-destructive and non-invasive character.
2
Content available Optical methods applied in thickness and topography testing of passive layers on implantable titanium alloys
Szewczenko J., Jaglarz J., Basiaga M., Kurzyk J., Paszenda Z.
Optica Applicata
|
2013
|
Vol. 43, nr 1
173--180
EN
The work presents the results of the applied surface pretreatment on topography and thickness of a passive layer of the anodically oxidized Ti6Al7Nb alloy. In our study were used: integrating sphere spectral measurements, bidirectional reflection distribution function (BRDF) method and optical profilometry. On the basis of the study, the passive layer thickness, roughness, waviness and the autocorrelation length were determined. The influence of voltage of anodization on topographical parameters of TiO2 has been discussed.
3
Content available remote Topografia i grubość warstw pasywnych na utlenianym anodowo stopie Ti6Al4V
Szewczenko J., Jaglarz J., Basiaga M., Kurzyk J., Skoczek E., Paszenda Z.
Przegląd Elektrotechniczny
|
2012
|
R. 88, nr 12b
228-321
PL
W pracy przedstawiono wyniki badań wpływu wstępnego przygotowania powierzchni na topografię i grubość warstw pasywnych wytworzonych na powierzchni stopu Ti6Al4V. Wstępne przygotowanie powierzchni obejmowało kombinację zabiegów obróbki mechanicznej oraz elektrochemicznej. Utlenianie anodowe przeprowadzono przy zróżnicowanych wartościach potencjału. Wykorzystując w badaniach: elipsometrię, BRDF, kulę całkującą oraz profilometr optyczny, wyznaczono dla badanych warstw pasywnych: grubość, chropowatość, długość autokorelacyjną.
EN
The paper presents results of the influence of preliminary surface preparation on the topography and thickness of the passive layer formed on the surface of Ti6Al4V alloy. Pre-treatment of surface treatments include combination of mechanical and electrochemical processes. Anodic oxidation was carried out at various values of potential. Thickness, roughness and autocorrelation length of the analyzed layers were tested by means of the following methods: ellipsometry, BRDF, ball integrator and an optical profilometer.
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.