Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: thin films C-Pd

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

System komputerowy do pomiaru zmian rezystancji warstw C-Pd zachodzących pod wpływem wodoru i metanu

Krawczyk S.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

2015

Vol. 56, nr 11

97-99

Przedmiotem pracy jest wielokanałowy zautomatyzowany system pomiarowy dedykowany do pomiarów zmian rezystancji warstw C-Pd pod wpływem wodoru i metanu. System ten został opracowany i wykonany w Instytucie Tele- i Radiotechnicznym podczas realizacji projektu numer UDA-POIG.01.03.01-14-071/08-11. Zastosowanie systemu pomiarowego umożliwia gromadzenie analizę danych poprzez PC komputera danych oraz automatyzację pomiarów.

The subject of the paper is the multi-channel automated measurement system dedicated to measurements of changes in C-Pd films resistance under the influence of hydrogen and methane. This system was developed and manufactured at Tele and Radio Research Institute during realization of (UDA-POIG.01.03.01-14-071/08-11) project. Application of this system enables the data acquisition and analysis with PC as well as it enables measurements automatization.