PL
 |
EN
Preferencje help
Polish version English version Język
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
Wyszukiwano:
w słowach kluczowych:  thin conductive films
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
1
Content available remote Modelowanie wiroprądowego przetwormika do pomiaru konduktywności cienkich warstw przewodzących
Stec W.
Zeszyty Naukowe Politechniki Rzeszowskiej. Elektrotechnika
|
2005
|
z. 28 [223]
181-190
PL
W artykule przedstawiono sposób modelowania wiroprądowego przetwornika do pomiaru konduktywności cienkich warstw przewodzących. Zaprezentowano wyniki symulacji oddziaływania warstw, o założonych właściwościach fizycznych, na system pomiarowy.
EN
In this article modelling of eddy current sensor for conductivity measurement of thin conductive layers has been presented. The layers which have assumed physical properties have an influence on the measuring system. The results of simulation were discussed.
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.