Thermoluminescent and semiconductor detectors operating in an integrating mode have been applied to the measurement of X-ray flashes of high intensity from large plasma facilities. A detection head of special kind has been developed to perform comparison measurements with the use of the detectors of both kinds.
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.