Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

1 Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

1 2018

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: textured materials

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Analiza właściwości optycznych krzemu teksturyzowanego

Strzyżewski M., Obstarczyk A., Pastuszek R.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

2018

Vol. 59, nr 7

17--19

Celem przeprowadzonych badań była analiza właściwości optycznych krzemu teksturyzowanego, ze szczególnym uwzględnieniem zastosowania w fotowoltaice. Analizie poddano morfologię powierzchni teksturyzowanych, wymiary geometryczne występujących chropowatości oraz ich wpływ na zmianę współczynnika odbicia, a także transmisji światła. Badanym materiałem był krzem (Si) poddany procesowi teksturyzacji, niepolerowany, a także polerowany, będący próbką porównawczą. Badania przeprowadzono z wykorzystaniem aparatury takiej jak mikroskop i profilometr optyczny oraz spektrofotometr. Analiza wykazała, że przeprowadzona w odpowiedni sposób chemiczna modyfikacja powierzchni krzemu pozwala na obniżenie współczynnika względnie o 76,5% w stosunku do powierzchni polerowanej.

The purpose of the research was analysis of optical properties of textured silicon, with a particular emphasis on their application in photovoltaics. The analysis was subjected to the morphology of the textured surfaces, geometrical dimensions of the occurring roughness and their influence on the change of reflectance, as well as light transmission. The researched material was silicon (Si) with textured surface, unpolished and polished as a comparative sample. The research was carried out using a microscope and an optical profilometer and also a spectrophotometer. The analysis showed that the chemical modification of the silicon surface carried out in a suitable way allows for a reduction of the coefficient to 76.5% in relation to the polished surface.