Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

1 Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

1 2008

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: testy wewnątrzobwodowe (ICT)

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Część sprzętowa uniwersalnego stanowiska testującego

Mocha J., Łaskarzewski Z.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

2008

Vol. 49, nr 11

184-186

W pracy przedstawiono budowę sprzętową uniwersalnego stanowiska testującego, przeznaczonego do końcowych elektrycznych testów urządzeń elektronicznych opuszczających linię produkcyjną. Na wstępie przedstawiono pokrótce metodykę testowania elektrycznego (testowanie funkcjonalne, ICT, kombinowane) oraz założenia projektowe, jakie musi spełniać zaprojektowana część sprzętowa testera. W dalszej części pracy przedstawiono architekturę testera, wraz z opisem budowy jego poszczególnych bloków oraz opisem zaprojektowanego obwodu drukowanego. Przedstawiona część sprzętowa stanowiska testującego jest zasadniczym elementem całego systemu, którym steruje oprogramowanie uruchamiane na komputerze PC. Do komunikacji pomiędzy testerem, a oprogramowaniem sterującym wykorzystana została sieć Ethernet oraz protokół TCP/IP.

The paper describes construction of the universal in-circuit tester. It is dedicated for final testing of electronic devices after manufacturing. There are presented basic methodologies of electrical tests (functional testing, in-circuit testing, mixed). There are also given design requirements for the tester and its architecture in detail including description of each functional block and the PCB design. Presented tester is the fundamental component of the testing system. It works under control of a program running on a PC. The tester uses the Ethernet network and the TCP/IP protocol for control and data transmission.