Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

1 Zeszyty Naukowe Wyższej Szkoły Informatyki

1 2017

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: testy stresowe

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

System zarządzania i monitoringu testowanych urządzeń elektronicznych w warunkach pracy w podwyższonej temperaturze

Jędrzejowski D., Karbowańczyk M.

Zeszyty Naukowe Wyższej Szkoły Informatyki

2017

Vol. 16, Nr 1

97--108

W artykule przedstawiono projekt oraz kluczowe aspekty realizacji aplikacji służącej do rejestrowania i nadzorowania przebiegu testów stresowych urządzeń elektronicznych. Testy takie polegają na poddawaniu działających urządzeń działaniu podwyższonej temperatury. Oprócz typowych przypadków użycia związanych z przetwarzaniem informacji o urządzeniach i testach w aplikacji rozwiązano problemy związane z integracją z istniejącym systemem akwizycji danych o poziomie temperatury, a także z informowaniem o przekroczonym zakresie wartości parametrów testu. Artykuł jest streszczeniem pracy końcowej [1].

In this article a project and key aspects of the implementation of an application used to register and supervise stress testing of electronic devices are presented. Such tests consist in subjecting operating devices to elevated temperatures. In addition to the typical use cases associated with the processing of device and test information in the application, problems related to integration with the existing temperature level data acquisition system as well as notifications on the exceeded range of test parameter values were solved. The article is a digest of final work [1]