Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

2 2007

Znaleziono wyników: 2

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: testowanie układów scalonych

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Zastosowanie urządzeń wirtualnych do testowania i aplikacji z wykorzystaniem specjalizowanych układów scalonych

Maj P.

Pomiary Automatyka Kontrola

2007

R. 53, nr 9 bis

717--720

W ostatnich latach dzięki postępowi w technologii produkcji układów VLSI stało się możliwe projektowanie i stosunkowo tanie prototypowanie specjalizowanych układów scalonych służących do odczytu różnego typu czujników pomiarowych. Znaczną część czasu w procesie uruchamiania finalnej aplikacji opartej o układy ASIC stanowi ich testowanie oraz budowanie kompletnego sytemu pomiarowego. Dzisiaj używa się do tego celu komputera PC wraz z różnego typu kartami akwizycji sygnałów, czyli tak zwanych urządzeń wirtualnych. Pozwalają one przenieść mierzone sygnały na ekran komputera, który przyjmuje funkcjonalność np. multimetru, oscyloskopu lub generatora. Zakładając taką modułową budowę różnych urządzeń kontrolno-pomiarowych wkładanych do komputera w postaci kart, można połączyć ich działanie w jednym systemie używając dedykowanego oprogramowania. Stąd czas potrzebny na testy i uruchamianie układów ASIC można znacząco skrócić, skracając czas tworzenia aplikacji kontrolno-pomiarowej. Okazuje się, że tego typu komputerowe systemy pomiarowe są co najmniej tak dokładne, a w pewnych zakresach częstotliwości sygnałów mierzonych nawet dokładniejsze od urządzeń tradycyjnych, a ich funkcjonalność w dużej mierze zależy od inwencji użytkownika. Dzięki wykorzystaniu środowiska LabVIEW możliwe jest bardzo szybkie tworzenie zarówno małych jak i rozbudowanych aplikacji testowych. Niniejszy artykuł pokazuje zarówno zalety jak i ograniczenia urządzeń wirtualnych oraz przykład aplikacji do testowania specjalizowanych układów scalonych.

Nowadays, as a result of progress in technology and production of VLSI integrated circuits it is possible to design and low-cost prototyping application specific integrated circuits, which are used for reading many different measuring sensors. In a process of implementation of a final application based on ASICs, most of the time is consumed by testing and creating the measuring systems. Today for this purposes PC computers with many different data acquisition cards are used. They are called the Virtual Instruments and are able to present the measured signals on the computer screen. The graphical user interface can be shown as it is a multimeter, an oscilloscope or a generator. Assuming this modular-based architecture of measuring systems placed in PC computers it is possible to connect them in one system using dedicated software. Now, the time required for testing and implementation of an ASIC can significantly be reduced by limiting the time required for creating the measuring software. It turns out that computer based measuring systems are just as accurate as traditional devices and its functionality depends strongly on users invention. By using graphical LabVIEW environment it is possible to create both small and large computer based measuring applications in a very short time. This article presents advantages and disadvantages of virtual devices. There will be also shown an example of an application for testing application specific integrated circuits.

Metoda i podsystem do wspomagania pomiaru szybkich przebiegów zakłócających w układzie scalonym

Pawłowski P.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

2007

Vol. 48, nr 11

47-50

Zaproponowano i scharakteryzowano metodę do wspomagania pomiaru szybkich przebiegów zakłócających w układzie scalonym. Przedstawiono także koncepcję podsystemu wspomagającego pomiar tego typu przebiegów, który może realizować praktycznie tę metodę i uwzględnia podstawowe ograniczenia związane z jego implementacją na podłożu układu scalonego wspólnym z układem będącym źródłem badanych przebiegów. Metoda ta może znaleźć zastosowanie do badania przebiegów zakłóceń, m.in. podłożowych oraz rozchodzących się w liniach zasilania, a także w testowaniu poprawności funkcjonalnej i aktywności bloków.

In this paper, a measurement support method for supporting measurement of fast waveforms resulting from switching noise in integrated circuits is proposed and characterized. This paper also shows the concept of subsystem supporting the measurement of waveforms of such type, which can realize this method practically and is adapted to the main limitations connected with its implementation on the common, silicon substrate with the noise source. This method can be employed for testing of fast, repetitive waveforms, e.g. switching noise waveforms from substrate and supply/ground lines, as well as for testing the functional correctness and switching activity of digital blocks.