PL
 |
EN
Preferencje help
Polish version English version Język
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników

Znaleziono wyników: 4

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
Wyszukiwano:
w słowach kluczowych:  testowanie transparentne
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
1
Testowanie transparentne z wykorzystaniem zespołu sygnatur
Mrozek I., Yarmolik V.
Logistyka
|
2011
|
nr 3
PL
Artykuł przedstawia zmodyfikowane podejście do transparentnego testowania pamięci opartego o testy krokowe. Podejście to umożliwia znaczne skrócenie czasu niezbędnego do wyliczenie sygnatury odniesienia. W proponowanej metodzie sprowadza się to do wykonania fazy odczytu o złożoności 1N. Dodatkowo metoda ta pozwala na łatwe określenie wartości sygnatury odniesienia charakterystycznej dla każdej fazy testu. Dzięki temu możliwa jest ocena poprawności działania pamięci nie tylko po zakończeniu całego procesu testowania (jak ma to miejsce w podejściu klasycznym), ale również po zakończeniu każdej jego fazy. Zmniejsza to w efekcie współczynnik maskowania uszkodzeń i prowadzi do zwiększenia ich pokrycia.
EN
In this paper the new concept of transparent RAM testing based on march tests has been proposed. This approach allows substantially reduce the time needed to calculate the faultfree signature. In the proposed concept complexity of this process is reduced to 1N. In addition, this method allows you to easily determine the value of the reference signatures of each phase of the transparent march test. It allows to compare the fault-free signature with real signature at the end of all march test phases. This reduces the effect of fault masking and leads to an increase of fault coverage.
2
Wykorzystanie charakterystyki adresowej w transparentnym testowaniu pamięci RAM
Mrozek I., Yarmolik V.
Logistyka
|
2010
|
nr 6
PL
Artykuł przedstawia strategię transparentnego testowania pamięci RAM opartą o charakterystykę adresową. Charakterystyka ta jest otrzymywana jako suma modulo 2 adresów wszystkich komórek pamięci, których zawartość jest równa 1. Charakterystyka ta może zostać wykorzystana jako sygnatura odniesienia w procesie testowania transparentnego. W artykule zostaną zaprezentowane podstawowe własności powyższego podejścia jak również zamieszczone zostaną wyniki otrzymane drogą symulacji potwierdzające wysoką wydajność tak realizowanych testów transparentnych.
EN
In this paper the new concept of transparent RAM testing based on Self- Adjusting Output Data Compression (SAODC) have been proposed and developed. The presented technique is based on a memory characteristic derived as the modulo- 2 sum of all addresses pointing to non-zero memory cells. This characteristic can be used as the RAM under test fault-free signature. The main properties of New transparent tests are investigated and experimentally validated.
3
Transformacja transparentnych testów krokowych w testy symetryczne
Mrozek I.
Logistyka
|
2010
|
nr 6
PL
Pamięci półprzewodnikowe wykorzystywane są obecnie we wszystkich systemach cyfrowych w tym w systemach o znaczeniu krytycznym, w których proces testowania poszczególnych podzespołów musi odbywać się periodycznie podczas normalnej pracy całego systemu. W wypadku pamięci RAM i testowania periodycznego bardzo ważną rolę odgrywają transparentne testy krokowe. Jedną z najbardziej interesujących technik pozwalających na implementację testów transparentnych jest technika oparta na testach symetrycznych. W artykule przedstawiona zostanie metoda transformacji dowolnego niesymetrycznego testu krokowego w postać symetryczną.
EN
High-density memories are often used in safety-critical microelectronic systems. Transparent March algorithms allow realizing periodic testing of memory while preserving its contents. One of the most interesting technique, which allows to implement the transparent memory testing is based on symmetry of march tests. This paper presents the technique which allows to transform any asymmetric march test to the symmetric one.
4
Transparentne testowanie pamięci RAM
Busłowska E., Brzozowski M., Mrozek I.
Wiadomości Elektrotechniczne
|
2006
|
nr 7
25-28
PL
Omówiono strategię testowania pamięci RAM w oparciu o testy krokowe i analizę sygnatur, stosowaną w fazie produkcji oraz podczas eksploatacji.
EN
The paper presents strategy of testing of RAMs, based on stepping tests and signature analysis, used on produetion and operating level.
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.