Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

1 Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

1 2011

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: testowanie sterowane specyfikacją

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

An analogue electronic circuits specification driven testing with the use of time domain response's features

Jantos P., Golonek T., Rutkowski J.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

2011

Vol. 52, nr 12

65-68

This paper presents a deterministic method of analogue electronic circuits' specification driven testing. This method is based on an analysis of a circuit-under-test time-domain response's to a pulse excitation. We are extracting the response's and its first order derivative minima and maxima locations. Then, the tested circuit's specifications are mapped into response's features planes. At the test stage, extracted reaponse's features are used to predict specifications values. The decision about the test result (GO/NO-GO) is made with a simple deterministic inference system. Our testing method has been verified with a use of an exemplary circuit, a low-pass filter.

W artykule przedstawiono deterministyczną metodę testowania analogowych układów elektronicznych. Metoda ta bazuje na wykorzystaniu cech odpowiedzi testowanego układu na wymuszenie w dziedzinie czasu. W zapisie odpowiedzi znajdowane są kolejne ekstrema. Specyfikacje układu testowanego są aproksymowane w przestrzenie zdefiniowanej czasem wystąpienia oraz wartością kolejnych cech odpowiedzi. Prosty, deterministyczny system ekspercki pozwala na stwierdzenie, czy testowany układ spełnia założenia specyfikacji. Prezentowana metoda testowania została zweryfikowana z wykorzystaniem przykładu obliczeniowego - filtru dolnoprzepustowego.