PL
 |
EN
Preferencje help
Polish version English version Język
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników

Znaleziono wyników: 6

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
Wyszukiwano:
w słowach kluczowych:  testowanie pamięci
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
1
Wykorzystanie testów symetrycznych w transparentnym testowaniu pamięci RAM
Mrozek I.
Logistyka
|
2012
|
nr 3
PL
Artykuł przedstawia strategię testowania pamięci wykorzystywaną w technice BIST opartą o symetryczne testy pamięci. Technika symetrycznych testów pamięci gwarantuje, iż proces testowania odbywa się w niezwykle efektywny i szybki sposób. Jej wykorzystanie pozwala zmniejszyć złożoność procesu testowania o około 30% w porównaniu ze standardową metodą testowania transparentnego opartą o sygnaturę odniesienia. Fakt ten ma niezwykle istotne znaczenie jeśli weźmie się pod uwagę bieżące i przyszłe rozmiary uzywanych pamięci.
EN
Computer systems play a significant role almost in each area of life. Therefore we have to ensure their correct working. One of the most important components of each computer system is its memory. So, it is very important to identify a memory fault as soon as it occurs. Memory fault can take place at any time. Therefore we have to test the memory while booting system and periodical when the computer system is in use. In the first case (sometimes in the second case too) we can use a non-transparent memory test, in second case we should use transparent memory test. In this paper we would like to present symmetric version of transparent memory tests which allow us to reduce about 30% the time of the process of memory testing in comparing with the standard non symmetric methods.
2
Transparentne testowanie pamięci RAM oparte na charakterystyce adresowej
Mrozek I., Yarmolik V.
Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
|
2011
|
Vol. 52, nr 12
114-116
PL
Artykuł przedstawia strategię transparentnego testowania pamięci RAM opartą o charakterystykę adresową. Charakterystyka ta jest otrzymywana jako suma modulo 2 adresów wszystkich komórek pamięci, których zawartość jest równa 1. Charakterystyka ta może zostać wykorzystana jako sygnatura odniesienia w procesie testowania transparentnego. W artykule zostaną zaprezentowane podstawowe własności powyższego podejścia jak również zamieszczone zostaną wyniki otrzymane drogą symulacji potwierdzające wysoką wydajność tak realizowanych testów transparentnych.
EN
In this paper the new concept of transparent RAM Testing based on Self-Adjusting Output Data Compression (SAODC) have been proposed and developed. The presented technique is based on a memory characteristic derived as the modulo-2 sum of all addresses pointing to non-zero memory cells. This characteristic can be used as the RAM under test fault-free signature. The main properties of new transparent tests are investigated and experimentally validated.
3
Transparentne testowanie pamięci RAM oparte na charakterystyce adresowej
Mrozek I., Yarmolik V.
Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
|
2010
|
Vol. 51, nr 9
161-163
PL
Artykuł przedstawia strategię transparentnego testowania pamięci RAM opartą o charakterystykę adresową. Charakterystyka ta jest otrzymywana jako suma modulo 2 adresów wszystkich komórek pamięci, których zawartość jest równa 1. Charakterystyka ta może zostać wykorzystana jako sygnatura odniesienia w procesie testowania transparentnego. W artykule zostaną zaprezentowane podstawowe własności powyższego podejścia jak również zamieszczone zostaną wyniki otrzymane drogą symulacji potwierdzające wysoką wydajność tak realizowanych testów transparentnych.
EN
In this paper the new concept of transparent RAM Testing based on Self-Adjusting Output Data Compression (SAODC) have been proposed and developed. The presented technique is based on a memory characteristic derived as the modulo-2 sum of all addresses pointing to non-zero memory cells. This characteristic can be used as the RAM under test fault-free signature. The main properties of new transparent tests are investigated and experimentally validated.
4
Content available Techniki wykrywania uszkodzeń pamięci z wykorzystaniem stopni swobody testów krokowych
Sokół B.
Zeszyty Naukowe Politechniki Białostockiej. Informatyka
|
2008
|
Z. 3
129-144
PL
Publikacja zawiera opis wybranych metod i technik wykrywania uszkodzeń pamięci z wykorzystaniem stopni swobody transparentnych testów krokowych. Główna uwaga została skupiona na uszkodzeniach uwarunkowanych zawartością typu Pattern Sensitive Faults (PSF) jako najtrudniejszych do wykrycia. Zaproponowane wykorzystanie stopni swobody testów krokowych przejawia się możliwością efektywnego przeprowadzenia transparentnego testowania i wykrywania uszkodzeń typu PSF przez proste testy krokowe i bazuje na możliwści wielokrotnego uruchomienia testu przy zmianach warunków początkowych (porządku adresowania) dla każdego uruchomienia. Wykorzystane i zaproponowane metody umożliwiają generowanie pełnych sekwencji adresowych oraz pozwalają na optymalny wybór adresów startowych przy wielokrotnym uruchomieniu testów krokowych. W pierwszej części pracy przedstawiona została problematyka testowania pamięci oraz stopnie swobody testów krokowych. Druga część pracy zawiera opis zaproponowanych rozwiązań wraz z wynikami wybranych eksperymentów.
EN
Publication shows the description of selected methods and techniques for memory faults detection with use of degrees of freedom inherent to transparent March tests. This paper deals with Pattern Sensitive Faults (PSF) as the most difficult to detect. Proposed techniques of use of degrees of freedom in March testing manifest itself in effective transparent memory testing and PSF faults detection with use of simple March tests, based on the possibility of multiple run of test with different initial conditions like address order for each run. Proposed methods allow us to choose in an optimal way starting addresses for multiple March tests run. In the first part of this publication, memory testing problems, testing principles and degrees of freedom were presented. Second part of this publication shows the description of proposed solutions with selected results.
5
Content available remote Address sequences and backgrounds with different Hamming distances for multiple run March tests
Yarmolik S.
International Journal of Applied Mathematics and Computer Science
|
2008
|
Vol. 18, no 3
329-339
EN
It is widely known that pattern sensitive faults are the most difficult faults to detect during the RAM testing process. One of the techniques which can be used for effective detection of this kind of faults is the multi-background test technique. According to this technique, multiple-run memory test execution is done. In this case, to achieve a high fault coverage, the structure of the consecutive memory backgrounds and the address sequence are very important. This paper defines requirements which have to be taken into account in the background and address sequence selection process. A set of backgrounds which satisfied those requirements guarantee us to achieve a very high fault coverage for multi-background memory testing.
6
Transparentne testowanie pamięci RAM wykorzystujące technikę testów symetrycznych
Mrozek I., Jarmolik W.
Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
|
2007
|
Vol. 48, nr 2
28-31
PL
Przedstawiono strategię testowania pamięci w technice BIST, wykorzystującą symetryczne testy pamięci. Technika symetrycznych testów pamięci gwarantuje, iż proces testowania odbywa się w niezwykle efektywny i szybki sposób. Jej wykorzystanie pozwala zmniejszyć złożoność procesu testowania o ok. 30% w porównaniu ze standardową metodą testowania transparentnego, opartą na sygnaturze odniesienia. Fakt ten ma niezwykle istotne znaczenie, jeśli weźmie się pod uwagę bieżące i przyszłe rozmiary używanych pamięci.
EN
Computer systems play a significant role almost in each area of life. Therefore we have to ensure their correct working. One of the most important components of each computer system is its memory. So, it is very important to identify a memory fault as soon as it occurs. Memory fault can take place at any time. Therefore we have to test the memory while booting system and periodical when the computer system is in use. In the first case (sometimes in the second case too) we can use a non-transparent memory test, in second case we should use transparent memory test. In this paper we would like to present symmetric version of transparent memory tests which allow us to reduce about 30% the time of the process of memory testing in comparing with the standard non symmetric methods.
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.