Przedstawiono jedną z nowoczesnych metod testowania ukladów cyfrowych, tzw. metodę testowania krawędziowego. Jest ona dobrym narzędziem do szybkiego i efektywnego testowania złożonych układów cyfrowych, np. zrealizowanych w strukturach FPGA. Przedstawiono także zbiór układów scalonych pozwalających na implementacje tej metody. O popularności jej świadczy fakt, że została ujęta w normę o nazwie IEEE 1149.
EN
The main aim of this paper is to present the some kind of debugging and testing of digital circuits. Boundary-Scan method and IEEE 1149.1 standard is considered. This method gives to designer the effective tool for rapid debugging and testing. The answer how implement this method gives a brief overview of SCOPE IC series.
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.