Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: testowanie krawędziowe

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Testowanie krawędziowe układów cyfrowych

Skorupski A.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

2004

Vol. 45, nr 11

40-45

Przedstawiono jedną z nowoczesnych metod testowania ukladów cyfrowych, tzw. metodę testowania krawędziowego. Jest ona dobrym narzędziem do szybkiego i efektywnego testowania złożonych układów cyfrowych, np. zrealizowanych w strukturach FPGA. Przedstawiono także zbiór układów scalonych pozwalających na implementacje tej metody. O popularności jej świadczy fakt, że została ujęta w normę o nazwie IEEE 1149.

The main aim of this paper is to present the some kind of debugging and testing of digital circuits. Boundary-Scan method and IEEE 1149.1 standard is considered. This method gives to designer the effective tool for rapid debugging and testing. The answer how implement this method gives a brief overview of SCOPE IC series.