Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: testowanie funkcjonalne części cyfrowej IED

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Wybrane problemy testowania inteligentnego urządzenia elektronicznego wyposażonego w standard IEC 61850

Wach A. K.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

2010

Vol. 51, nr 7

75-78

Standard IEC 61850 jest odpowiedzią na potrzebę ujednolicenia metod komunikacji pomiędzy elementami stacji elektroenergetycznej. Właściwości standardu IEC 61850 umożliwiają również wprowadzanie logicznego węzła (lub urządzenia logicznego) w tryb testowy. Możliwość ta została wprowadzona w celu umożliwienia wykonywania niektórych rodzajów testów funkcjonalnych, podczas procesu eksploatacji systemu. W artykule ograniczono się do problemów testowania części cyfrowej inteligentnego urządzenia cyfrowego (IED). Zaproponowano narzędzie wspomagające wnioskowanie o tym, który z elementów części cyfrowej IED jest (z określonym prawdopodobieństwem) w stanie niezdatności, jeżeli na danym wyprowadzeniu (jakiegoś elementu) została zaobserwowana reakcja na test inna niż reakcja w stanie zdatności. Narzędziem tym jest sieć informacyjna, będąca pewnym odpowiednio opisanym digrafem, zbudowanym na zbiorze węzłów, będących odwzorowaniem wyprowadzeń informacyjnych testowanego obiektu cyfrowego i jego elementów.

The IEC 61850 standard is a response to the need to standardize methods of the communication between the devices of the power substations. The features offered by the IEC 61850 standard give us also the possibility to put logical node (or logical device) in the test mode. This possibility is introduced to support the ability to perform certain forms of functional testing while the system is in operation. The paper is limited to the problems of the functional testing of the digital part of intelligent digital device (IED). It proposes a tool to assist reasoning about it, which of the elements of the digital part of the IED is (with certain probability) in the inoperable state, if at the output (some elements) we observed response does not equal the response of the device being in the operable state. This tool is the information net, which is some described respectively digraph, built on a set of nodes, which are pins mapping the digital device under test and its components. Using the information net can be mapped on the relevant cause-effect relation between the inoperable state of a specific component of the device, and the reaction observed on any pin of a component of a tested device.