Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

Powiadomienia systemowe

Sesja wygasła!

Znaleziono wyników: 2

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: testing accuracy

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Nowa metoda badania dokładności maszyn NC

Wypysiński R.

Przegląd Mechaniczny

2009

nr 6

37-40

W artykule omówiono cel i zakres badania dokładności maszyn sterowanych numerycznie, w tym obrabiarek i robotów. Na tle dostępnych rozwiązań przemysłowych podano koncepcje patentowych rozwiązań oraz przedstawiono nową metodę, nazwaną wektorową z uwagi na wprowadzenie dodatkowego niezależnego układu współrzędnych. Omówiono wyniki badań laboratoryjnych oraz testy obrabiarek wykonane za pomocą dwóch przyrządów: do pomiarów w 2D oraz 3D. Wykonane testy wykazały przydatność przyrządu do badania dokładności obrabiarek NC.

The aim and scope of testing accuracy of NC machines including machine tools and robots were presented in the paper. Against a background of accessible industrial solutions there was presented idea for patents and new method, named vector method because of introducing new additional, independent coordinate system. There were presented results of laboratory tests and NC machines tests conducted with the use of 2D and 3D measuring instruments. These tests con-firmed usability of the instrument to measurements of accuracy of NC machines.

Testowanie mikroprocesorowych urządzeń pomiarowo-sterujących

Mróz P.

Pomiary Automatyka Robotyka

2004

R. 7, nr 7-8

100-103

Podczas testowania dokładności mikroprocesorowych urządzeń pomiarowo-sterujących oprócz dokładności testu wazny jest czas jego wykonywania. W celu skrócenia czasu testowania stosuje się różne metody. jedna z nich jest zastosowanie nowej metody testowania, opracowanej i nazwanej przez autora, metoda pośrednia niepełną. W pracy przedstawiono dwie odmiany metody pośredniej niepełnej oraz wyniki badań symulacyjnych czasów testowania urządzeń metodą bezpośrednią, metodą pośrednią niepełną zewnętrzną i metoda pośrednią niepełną wewnętrzną.

Paper shows the method by the author called a indirect incomplete method, used for testing accuracy of microcontrollers` measuring-control devices, and contain the comparison of the results of simulations testing device time by direct method, indirect incomplete internal method and indirect incomplete external method.