Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: testery wbudowane (BIST) w układ scalony

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Testery wbudowane (BIST) układów analogowych i mieszanych sygnałowo

Toczek W.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

2002

Vol. 43, nr 6

34-37

W pracy dokonano przeglądu technik realizacji testerów wbudowanych (BISTów) dla układów analogowych i mieszanych sygnałowo. Omówiono koncepcję źródeł sygnałów testujących opartą na modulacji Σ∆, testowanie za pomocą technik CPS, histogramową metodę analizy odpowiedzi przetwornika A/C, wykorzystanie sumy kontrolnej w macierzach równania stanu i oscylacyjne metody testowania.

The paper presents a survey of recent works focused on techniques that have been proposed for making analog and mixed-signal circuits self-testable. Several Techniques for implementing Built-In Self-Test schemes: Σ∆ based signal generation, DSP - based testing, histogram testing of A/Ds, continous checksum method and oscillation test methods are described.