Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

1 Logistyka

1 2011

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: test vectors

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Generowanie optymalnych wektorów testowych pamięci RAM

Mrozek I., Yarmolik V.

Logistyka

2011

nr 6

Efektywne wektory testowe i sposoby ich generowania odgrywają znaczącą rolę w testowaniu zarówno oprogramowania jak i sprzętu. Jednym z najtańszych podejść do problemu generowania wektorów testowych jest podejście oparte o wektory losowe. Obecnie w literaturze zaproponowanych zostało wiele nowych metod znacząco poprawiających efektywność testowania losowego należących do grupy kontrolowanego testowania losowego. W podejściu tym wybrane parametry tworzonych wektorów są z góry ustalane. W artykule zaproponowana zostanie nowa metoda generowania wektorów testowych. W proponowanym podejściu jako funkcja ich dopasowania użyta zostanie Maksymalizacja Minimalnej Odległości Hamminga, w odróżnieniu do standardowej odległości Hamminga używanej w podejściu znanym z literatury. Pozwoli to na wygenerowanie optymalnych wektorów testowych, których efektywność sprawdzona zostanie w odniesieniu do uszkodzeń PSF pamięci RAM.

Efficient test vectors and methods of their generation play crucial role in both hardware and software testing. Random testing is a low cost method that can be applied to a wide range of testing problems. Recently, a number of novel techniques, include Antirandom Testing strategies, have been developed to increase the effectiveness of random testing. In this paper, we propose a new algorithm for antirandom test generation. As the fitness function we use Maximal Minimal Hamming Distance (MMHD) rather than standard Hamming distance as is used in the classical approach. This approach allows us to generate optimal test vectors for RAM testing.