Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

2 Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

Znaleziono wyników: 2

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: test statystyczny NIST

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

High-speed chaotic pseudo-random number generator in programmable SoC device

Dąbal P., Pełka R.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

2014

Vol. 55, nr 12

6-9

In this paper we propose a novel architecture of chaotic pseudo-random number generator (PRNG) based on the pipelined processing and frequency dependent negative resistances (FDNR). The design of PRNG has been optimized to achieve maximum output rate of pseudorandom sequences. The PRNG has been tested for 16-, 32-, 48-, and 64-bit precision of arithmetic by NIST 800-22 tests performed for each individual bit position. Then, the selected bit positions have been composed into the final output stream and verified by NIST test again. The PRNG has been implemented in programmable SoC device from Xilinx. Using the Zynq-7000 chip with 28-nm programmable logic and dual core ARM Cortex-A9 we get the maximum generation rate equal to 11.48 Gbps. An efficiency of the proposed approach in terms of maximum throughput and required logic resources has been compared with other implementations of chaotic PRNGs in programmable devices.

W artykule zaproponowano nową architekturę chaotycznego generatora pseudolosowego opartą o potokową strukturę z oscylatorem wykorzystującym element FDNR. Projekt zoptymalizowano pod kątem uzyskania maksymalnej szybkości pracy. Korzystając z testu NIST 800-22 zbadano wszystkie możliwe pozycje bitowe dla konfiguracji o precyzji 16, 32, 48 i 64 bitów. Następnie na podstawie wyników wskazane zostały pozycje bitowe, z których utworzono słowa, a następnie poddano je analizie statystycznej. Generatory zostały zaimplementowane w układzie programowalnym SoC firmy Xilinx. Najwydajniejsze rozwiązanie pozwoliło na uzyskanie szybkości generacji równej 11.48 Gbps. Podano koszty implementacji zaproponowanego rozwiązania, a otrzymane wyniki porównano z innymi znanymi rozwiązaniami.

An automated method for statistical testing of FPGA-based pseudo-random generators

Dąbal P., Pełka R.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

2013

Vol. 54, nr 2

58-63

This paper presents design and development of the system for automated testing of pseudo-random binary sequences produced by chaotic generators implemented in programmable devices. This task requires a large amount of computing resources due to the complex form of statistical tests. The proposed solution is a flexible, platform-independent integrated test-bed and can be extended by new modules. It has been proved, that the described system significantly simplifies testing of pseudorandom generators implemented in FPGA devices. Experimental results of 6 different architectures of pseudo-random generators implemented on Zynq, Spartan 6, Virtex 5 and Virtex 6 FPGA devices from Xilix have been presented. The overall test time for NIST test battery is about 8 times shorter than in a conventional method based on a single-computer test-bed.

Artykuł prezentuje projekt i realizację zautomatyzowanego systemu do testów chaotycznych generatorów pseudolosowych sekwencji binarnych implementowanych w układach programowalnych. Ze względu na złożoną budowę testów statystycznych zadanie to wymaga dużej mocy obliczeniowej. Zaproponowane rozwiązanie jest elastyczne, niezależne od platformy sprzętowej i może być rozbudowywane o nowe moduły. Wykazano, że opisany system w znaczący sposób ułatwia testowanie generatorów ciągów pseudolosowych w układach FPGA. Podano wyniki eksperymentalne badań 6 różnych architektur generatorów pseudolosowych zaimplementowanych w układach rodzin Zynq, Spartan 6, Virtex 5 i Virtex 6 firmy Xilinx. Łączny czas wykonania zestawu testów NIST przy użyciu proponowanej metody jest krótszy 8-krotnie od czasu wykonania testu konwencjonalną metodą z pojedynczym komputerem.