Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

1 Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

1 2013

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: test points selection

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Test points selection algorithms improving efficiency of analog circuit fault diagnosis

Ossowski M., Korzybski M.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

2013

Vol. 54, nr 2

13-17

The following paper considers two different methods of improving the ranking list algorithm for catastrophic faults localization methods. The first one is based on the simulated annealing and genetic algorithm approach. It enables us to search in very large set of possible testing points. The second one is established on the invented fitness function closely related to the structure of modified gray relational analysis (GRA) algorithm. Both methods make it possible to investigate circuits with parameter's tolerances included. Improving any other fault detection algorithms is an alternative possible use of the presented GRA based optimization technique for finding the set of analyzed circuit test points.

W artykule opisano i porównano dwie metody poprawy skuteczności prostego rankingowego algorytmu detekcji uszkodzeń katastroficznych wykorzystującego koncepcje teorii systemów szarych (GRA). Pierwsza z nich opiera się na koncepcji symulowanego wyżarzania, druga natomiast wykorzystuje pewne właściwości zmodyfikowanego rankingowego algorytmu detekcji uszkodzeń do optymalizacji zbioru punktów testowych. Oba podejścia zapewniają uwzględnianie tolerancji elementów w procesie diagnostycznym. Zaproponowana filtracyjna technika bazująca na właściwościach proponowanego klasyfikatora GRA umożliwia ponadto prostą i efektywną selekcję punktów testowych dla dowolnej innej metody wykrywania uszkodzeń.