Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

2 Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

Znaleziono wyników: 2

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: test card

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Krótki przegląd technologii testowania układów scalonych na płytkach krzemowych

Dąbrowiecki Krzysztof

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

2021

Vol. 62, nr 1

15--18

W artykule przedstawiono testy weryfikujące w fazie budowy i montażu modułów elektronicznych. Omówiono urządzenia i główne technologie przeznaczone do testowania płytek krzemowych z układami scalonymi. Na przykładzie rezystancji styku zilustrowano złożoność powiązań parametrów mających wpływ na dobry kontakt pomiędzy końcówkami mikrokontaktorów i punktami testowymi układów scalonych

The article presents the verification tests during the construction and assembly phase of electronic components. The devices and main technologies for testing of silicon wafers are discussed. The example of the contact resistance illustrates the complexity of the parameters relationship influencing a good contact between the probe tips and the test points of the integrated circuits

A new, low cost, precise measurement card for testing of ultra-low power analog ASICs

Dalecki J., Talaśka T., Długosz R.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

2011

Vol. 52, nr 12

32-35

The paper presents a new, precise, 16-channel measurement card for ultra low power, analog and digital Application Specific Integrated Circuits (ASICs). The proposed system allows to test the circuits working either in the voltage (in the range from -4 to 4 V) or the current mode (in the range from 1 nA to 20 mA) witfi the resolution up to 20 bits, with a maximum frequency of a single channel up to 2 kHz. Each of the inputs can serve as an 'ideal' adjustable voltage or the current source. The advantage of the proposed system is a low price, high precision and the ability to operate simultaneously in two modes on each channel (i.e., as a reference signal or as the measuring channel). This feature is very important, as during the tests it is necessary to work with many different excitations and at the same time to perform measurements on all of the channels. The system is built from signal converters, analog-to-digital (ADC) and digital-to-analog (DAC) converters, multiplexers, operational amplifiers, STM32 microcontroller with the ARM Cortex-M3 core and the AVR microcontroller. The realized system features high stability and robustness against the noise.

W publikacji przedstawiono nowy, 16-kanałowy system pomiarowy do testowania energooszczędnych, analogowych układów ASIC. Zaproponowany system pozwala na jednoczesne testowanie układów pracujących w trybie napięciowym i prądowym z rozdzielczością do 20 bitów, z maksymalną częstotliwością przypadająca na jeden kanał do 2 kHz. Każde z wejść może pracować jednocześnie, jako idealne regulowane ''idealne" źródło napięciowe lub prądowe. Podczas pomiarów napięcia i prądy na każdym z 16 kanałów (niezależnie od trybu) są ustawione na stałym poziomie. Zaletą proponowanego systemu, w przeciwieństwie do podobnych rozwiązań spotykanych na rynku, jest niska cena, wysoka precyzja i zdolność do jednoczesnej pracy w dwóch trybach na każdym kanale (tj. jako źródło sygnału, lub jako układ pomiarowy). Ta zaleta jest bardzo ważna podczas testów, gdzie mamy do czynienia z różnymi wymuszeniami i jednocześnie musimy wykonywać pomiary na wszystkich kanałach karty pomiarowej. System pomiarowy składa się z przetworników ADC i DAC, multiplekserów, wzmacniaczy operacyjnych, mikrokontrolerów STM32 z rdzeniem ARM i AVR. System charakteryzuje się duża stabilnością pomiarów i odpornością na szumy.