PL
 |
EN
Preferencje help
Polish version English version Język
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników

Znaleziono wyników: 5

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
Wyszukiwano:
w słowach kluczowych:  test bus
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
1
Content available Przed wyborami International Coach of the Year 2018
Rusak Z.
Autobusy : technika, eksploatacja, systemy transportowe
|
2017
|
R. 18, nr 7-8
20--21
2
Content available Setra S 515 HD : International Coach of the Year 2014
Rusak Z., Dyr M.
Autobusy : technika, eksploatacja, systemy transportowe
|
2014
|
R. 15, nr 3
20-31
3
Content available Nad pięknym modrym Dunajem : Coach Euro Test 2013
Rusak Z.
Autobusy : technika, eksploatacja, systemy transportowe
|
2013
|
R. 14, nr 9
10-18
PL
Jak co roku, dwudziestu dziennikarzy fachowych pism z całej Europy testowało autobusy turystyczne, aby wyłonić zwycięzcę, który otrzyma prestiżową nagrodę International Coach of the Year 2014. W br. testy przeprowadzono w okolicach miasta Ybbs an der Donau w Dolnej Austrii, położonego 60 km na zachód od Wiednia. Bazą wypadową była zajezdnia lokalnego przewoźnika, firmy logistycznej i touroperatora Mitterbauer. W artykule opisano trasę testową i autobusy trzech producentów o zasięgu globalnym: Mercedes-Benz, Setra i Van Hool.
4
Content available remote Współczesne trendy w diagnostyce układów elektronicznych z wykorzystaniem magistral testujących
Bartosiński B.
Przegląd Elektrotechniczny
|
2010
|
R. 86, nr 9
1-4
PL
Przedstawiono magistrale testujące przeznaczone do diagnostyki cyfrowych i analogowych układów elektronicznych: IEEE 1149.1 dla układów cyfrowych, IEEE 1149.4 dla układów mieszanych sygnałowo oraz magistralę IEEE 1149.6 dla złożonych układów cyfrowych sprzężonych pojemnościowo. Zaprezentowano wyniki badań nad wykorzystaniem wyposażonych w magistralę IEEE 1149.4 układów SCANSTA400 do testowania i identyfikacji uszkodzeń w układach elektronicznych. Badaniami objęto metody pomiaru rezystancji oraz metody pomiaru pojemności i indukcyjności o małym współczynniku stratności. Wykonane badania potwierdziły użyteczność układów SCANSTA400 wyposażonych w magistralę IEEE 1149.4 do wykrywania błędów produkcyjnych, bez konieczności użycia złożonych głowic ostrzowych. Zaprezentowano opracowany w ostatnich miesiącach standard magistrali dwuprzewodowej IEEE 1149.7 a także propozycje standardu IEEE P1581, IEEE 1149.8.1 oraz przedstawiono perspektywy i kierunki dalszego rozwoju magistral testujących.
EN
A review is presented of testing buses designed for the diagnostics of digital and analog electronic circuits: the IEEE 1149.1 bus for digital circuits, the IEEE 1149.4 bus for mixed-signal circuits and the IEEE 1149.6 bus for AC coupled complex digital circuits. Diagnostics carried out with the use of the above-mentioned buses is possible at the integrated circuit, packet or system level. Results of tests on the use of SCANSTA400 devices equipped with the IEEE 1149.4 test bus for testing and fault identification in electronic circuits are also presented. The tests included two methods of resistance measurement and two methods of low-dissipation factor coefficient capacitance and inductance measurement with the use of the IEEE 1149.4 bus. For multielement RLC structures, a method is presented of element identification through the bus, using Tellegen’s Theorem. The tests which were carried out confirmed the usefulness of SCANSTA400 devices equipped with the IEEE 1149.4 bus for detection of shorts and opens in connections and for determination of the values of passive elements on electronic circuit boards, without the use of complex bed of nails. The advantages and disadvantages of the test buses are discussed and perspectives and directions of their further development for testing, programming and debugging presented.
5
Diagnostyka układów elektronicznych z magistralą testującą
Borkowska M., Gonera M., Kern J.
Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
|
2002
|
Vol. 43, nr 12
8-11
PL
Omówiono diagnostykę współczesnych układów elektronicznych poprzez wprowadzenie do konstrukcji struktur ułatwionego testowania. Przedstawiono architekturę magistral testujących serii IEEE 1149. Omówiono prace prowadzone w PIE w zakresie własności i aplikacji tej magistrali.
EN
Problems of the diagnostics of the modern electronic circuits and the way to solve them by means of design for testability structures are presented. The architecture of the test buses IEEE 1149 series is shown. Properties of the bus and their applications are the subject of the works in the Industrial Institute of Electronics. The results are presented.
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.