Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

Znaleziono wyników: 2

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: tesselation

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Metody charakteryzowania niejednorodności rozmieszczenia elementów strukturalnych w materiałach wielofazowych

Rożniatowski K.

Prace Naukowe Politechniki Warszawskiej. Inżynieria Materiałowa

2008

z. 22

1-90

W pracy przedstawiono najczęściej wykorzystywane w badaniach materiałoznawczych metody ilościowego opisu niejednorodności struktury materiałów wielofazowych. Przeglądu tego dokonano, opierając się na analizie danych literaturowych oraz wynikach badań własnych. Dokonano klasyfikacji najczęściej wyróżnianych sposobów rozmieszczenia cząstek drugiej fazy. Zdefiniowano pojęcia rozmieszczenia doskonale przypadkowego, regularnego i ze skupiskami. Omówiono podstawy oceny rozmieszczenia z wykorzystaniem funkcji kowariancji, metod skaningu systematycznego i analizy wariacyjnej, metod opartych na pomiarze odległości od najbliższego sąsiada, funkcji rozkładu radialnego oraz analizy opartej na koncepcji pól wpływów (tesselacji). Wskazano zakres wykorzystania każdej z omówionych metod. Dokonano porównania opisanych metod z punktu widzenia ich stosowalności w odniesieniu do spotykanych sposobów rozmieszczenia cząstek drugiej fazy. Zaproponowano jednoczesne stosowanie kilku metod opisu w celu obiektywnej identyfikacji typu organizacji struktury. Omówiono, na wybranych przykładach, wpływ rozmieszczenia elementów struktury na właściwości materiałów o złożonej strukturze. Wykazano celowość dalszego rozwijania metod ilościowego opisu niejednorodności struktury materiałów wielofazowych jako narzędzia pozwalającego optymalizować właściwości mechaniczne materiałów.

The paper shows methods (those most often used in materials science) of quantitative description of inhomogeneity ofnthe multiphase materials structure. The review is based on scientific publications and the author's own research. A classifications of most often distinguished second phases spatial patterns was obtained. The definitions of complete spatial randomness, regular spatial patterns and spatial patterns with clusters were analyzed, followed by description of the fundamentals of the inhomogeneity description based on covariance, systematical scanning and variance analysis, nearest neighbor distance, radial distribution function and tesselation methods. The scope of applications of all described methods were presented. A comparison of the considered procedures was obtained from the point of view of second phase spatial patterns characteristic features. Simultaneous use of a few different methods for full identification of a structure organization kind was suggested. Influence of structure elements space distribution on materials properties was described on selected examples. The need to develop methods of quantitative description of multiphase materials inhomogeneity was proven, as a useful tool for optimization of mechanical properties.

Pictometry® - a new perspective on aerial image products

Madej M.

Roczniki Geomatyki

2007

T. 5, z. 3

81-86

W artykule przedstawiono nowy system informatyczny Pictometry® - oparty na wykorzystaniu kolorowych zdjęć lotniczych wraz ze specjalistycznym oprogramowaniem dla wizualizacji terenu. W systemie wykorzystuje sie dwa rodzaje zdjęć lotniczych o wysokiej rozdzielczości, a mianowicie zdjecia ukośne oraz ortogonalne, dające możliwość obserwacji obiektu z rożnych kierunków. Dzięki wbudowanej w systemie bazy danych o lokalizacji obiektu, istnieje możliwość wykonywania pomiarów na obiekcie za pomocą specjalistycznego oprogramowania pomiarowego. System Pictometry® składa sie z biblioteki zdjęć lotniczych wraz z oprogramowaniem do ich oglądania. Dane pomiarowe mogą być przeglądane za pomocą darmowego oprogramowania zwanego EFS lub dowolnego oprogramowania GIS, takich firm jak: ESRI, MapInfo, CadCorp, Geomedia itp. używając standardowych procedur. Produkt umożliwia także wprowadzenie dodatkowych danych, takich jak mapy sytuacyjne, mapy wysokościowe oraz nakładki GIS. Biblioteka zdjęć piktometrycznych stanowi olbrzymi zasób informacji do opracowywania i analizy danych, a zdjecia georeferencyjne wzbogacają zasób tradycyjnych ortofotomap, dając możliwość perspektywicznego oglądania obiektu, a także: inspekcje fasad budynków łącznie z analizą ich struktury, lokalizacją wejść i wyjść, poprzednio niemożliwe w tradycyjnej fotogrametrii lotniczej, pomiar wysokości, długości, powierzchni obiektu bezpośrednio z fotografii; pomiary mogą być robione także na modelach 3D, poprawe jakości analizy w terenach niedostepnych, a także poprawną identyfikacje takich obiektów jak słupy oświetleniowe, telegraficzne itp. co jest trudne do przeprowadzenia w tradycyjnej fotografii lotniczej, możliwość nałożenia nakładek GIS także na zdjecia ukośne. Powyżej opisany system bazujący na danych przestrzennych i danych geograficznych GIS jest łatwy w użyciu i dostarcza wiele wiecej informacji. Szczególne zastosowanie system znajduje w obrocie nieruchomościami, planowaniu, inżynierii. Używany jest przez policje, służby bezpieczenstwa, zakłady ubezpieczeniowe, agencje nieruchomości. Zdjecia piktometrycze mogą być wykorzystane do tworzenia nowych projektów, analizy i weryfikacji posiadanych danych na mapach ze stanem obiektów na zdjeciach. System piktometryczny oferuje użytkownikowi dużą oszczedność czasu i kosztów przez "przeniesienie obiektów z terenu bezpośrednio do biura", gdzie istnieje także możliwość wykonania pomiarów.