Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

1 Physicochemical Problems of Mineral Processing

1 2002

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: techniki SEM/EDX i AFM

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

SEM/EDX and AFM study of gold cementation on copper(i) sulphide

Barzyk W., Kowal A., Pomianowski A., Rakowska A.

Physicochemical Problems of Mineral Processing

2002

Vol. 36

9-20

This paper is methodological in nature. The results presented here are a preliminary step towards finding an optimal method of sulphide surface preparation for systematic AFM studies of AuCl4 - cementation products. This technique makes it possible to see surface topography in nanoscale. Products of AuCl4 - cementation on synthetic copper (I) sulphide, Cu1.86S, were investigated by scanning electron microscopy (SEM/EDX) and atomic force microscopy (AFM). The microstructure of the sulphide surface before and after the reaction with AuCl4 - was analysed. Changes in the amount and shape of the products formed on polished plates and grains of the same material were compared. The process was performed in a flow-through vessel (on the plates) or in a circulation apparatus (on grain samples), by contacting the sulphide with aqueous solution containing 1.5 · 10-4 mol/dm3 HAuCl4 and 1*10-1 mol/dm3 HCl. The amount of gold deposited on a grain sample was determined from AuCl4 - concentration decay. The reaction progress on plates was evaluated from the intensities of the AuL line of the EDX spectra. The maximum cementation degree was found to be equal to about 80 estimated atomic layers of metallic gold deposited on the sulphide. In SEM images the products were seen as crystallites of different sizes, between 0.1μm (the lowest limit detectable by SEM with a magnification of 5000x) and about 1.5μm, randomly distributed over heterogeneous surfaces of the plates and grains. The AFM technique made it possible to see the shapes of smaller crystallites, with their growth limited to the inside of cavities or cracks formed by polishing. The average density of the crystallites observed by AFM was of the order of 10 per 1μm2 geometric surface area.

Praca ma cel metodologiczny - optymalizację przygotowania próbek siarczku miedzi (I) do systematycznych badań topologii produktów cementacji jonów AuCl4 - na powierzchni, techniką AFM. Technika ta daje wgląd w topografię powierzchni w skali nanometrycznej. Badano produkty cementacji jonów AuCl4 - na syntetycznym siarczku miedzi (I) - Cu1,86S, przy użyciu mikroskopii elektronowej (SEM/EDX) oraz mikroskopii sił atomowych (AFM). Porównano kształt oraz ilość produktów utworzonych na ziarnach i wypolerowanych płytkach z tego samego materiału. Proces cementacji prowadzono w naczyniu przepływowym (płytki) oraz w aparacie cyrkulacyjnym (próbki ziarn), przez kontaktowanie próbki w strumieniu roztworu zawierającego w 1 dm3 wody 1,5· 10-4 mola HAuCl4 oraz 1· 10-1 mola HCl. Ilość złota osadzonego na ziarnach siarczku w wyniku cementacji określono wyznaczając ilość jonów AuCl4 - ubywających z roztworu w czasie przebiegu procesu. Stopień zaawansowania przebiegu procesu na płytkach oszacowano przez porównanie intensywności linii AuL widm EDX próbki ziarnowej i płytek. Badana maksymalna ilość produktów cementacji odpowiadała osadzeniu około 80-tu szacunkowych warstw atomowych Au na powierzchni. Produkty cementacji obserwowane na obrazach SEM mają kształt krystalitów o różnej wielkości, od około 0.1μm (dolna granica rozdzielczości SEM przy powiększeniu 5000 razy) do 1.5μm. Obrazy SEM nie wykazały preferencyjnego rozmieszczenia tych krystalitów na niejednorodnej powierzchni płytek lub ziaren. Technika AFM umożliwiła obserwację kształtu małych krystalitów (0.1μm -0.4 μm), wskazując na ich preferencyjne usytuowanie w rysach lub szczelinach teksturalnych ziaren siarczku. Średnia gęstość krystalitów obserwowanych techniką AFM siarczku jest rzędu 10 na 1 μm2 powierzchni geometrycznej siarczku.