Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

Znaleziono wyników: 2

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: technika mikroskopii elektronowej

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Badania metalograficzne adhezji powłoki ochronnej na żeliwnych rurach wodociągowych

Dąbrowski W., Wassilkowska A.

Gaz, Woda i Technika Sanitarna

2018

Nr 9

334--338

Badania jakości przewodów żeliwnych dostarczanych na duże place budowy są istotne z uwagi na ich trwałość i funkcjonalność. Jednakże interpretacja tych badań nastręcza trudności. Dlatego w artykule omówiono doświadczenia autorów w zakresie trudności w interpretacji zdjęć pęknięć pomiędzy warstewkami rdzy powstałej na ścianach przewodów żeliwnych w czasie ich wyżarzania oraz przedstawiono argumenty przemawiające za tym, że lepiej jest prowadzić badania wytrzymałościowe na prostokątnych próbkach wyciętych podłużnie ze ściany przewodów, niż na próbkach o przekroju kołowym.

The quality tests of ductile iron pipes delivered to large construction sites are important for the pipes durability and functionality. However, the interpretation of those tests is found to be difficult. In a present paper, the authors' experience in the interpreting of crack pictures between the layers of rust, formed on the walls of cast iron pipes during annealing has been discussed. There are indications that it would be better to carry out the strength tests on rectangular samples, cut out lengthwise from the pipe wall, instead on the tensile samples with a circular cross-section.

Zasady postępowania przed badaniem rur żeliwnych z użyciem mikroskopu elektronowego

Dąbrowski W., Wassilkowska A.

Rynek Instalacyjny

2017

Nr 12

62--65

W artykule wymieniono i pokrótce opisano ograniczenia w stosowaniu skaningowej mikroskopii elektronowej do sprawdzania wymagań stawianych przewodom żeliwnym przez normę PN‑EN 545:2010. Tekst został zilustrowany zdjęciami ze skaningowego mikroskopu elektronowego Hitachi S-3400.

Some limitations of scanning microscope technology applying for testing the requirements of the standard PN EN 545:2010 have been listed and briefly discussed. The text has been illustrated by some images from a scanning microscope Hitachi S-3400.