PL
 |
EN
Ograniczanie wyników
Czasopisma help
  1. 1 LAB Laboratoria, Aparatura, Badania
Autorzy help
  1. 1 Harmasz J.
Lata help
  1. 1 2003
Preferencje help
Polish version English version Język
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
Wyszukiwano:
w słowach kluczowych:  technika cienkiej warstwy
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
1
Technika cienkiej warstwy w spektrometrii podczerwieni i jej zastosowania
Harmasz J.
LAB Laboratoria, Aparatura, Badania
|
2003
|
R. 8, nr 3
9-11
PL
Spektrometria podczerwieni znajduje obecnie bardzo duże zastosowanie zarówno w laboratoriach naukowych, jak i przemysłowych, medycznych, a także związanych z ochroną środowiska. Tradycyjna technika w roztworze, z zastosowaniem wiązki niespolaryzowanej jest stosowana głównie do ustalania grup funkcyjnych i struktury związków. Technika pomiarowa tzw. technika cienkiej warstwy, z jednoczesnym zastosowaniem wiązki spolaryzowanej, daje zupełnie nowe możliwości wykorzystania spektrometrii IR.
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.