W pracy przedstawiono najistotniejsze czynniki jakie powinno się uwzględniać aby efektywnie zmiejszać poziom przebiegów niepożądanych w ostrzowych pomiarach szumów struktur półprzewodnikowych. Przedstawione zalecenia redukcji zakłóceń sformułowano w oparciu o wyniki badań własnych autora.
EN
In the paper the factors important for the effective minimisation of the undesirable signals level in the point probe noise measurements of the semiconductor structures are presented. Described methods for the distortion reduction comes from the author's own experience in the noise measurements field.
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.