Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: systemy w chipie

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Podatność układów FPGA na promieniowanie jonizujące w warunkach ziemskich

Mroczek K.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

2005

Vol. 46, nr 5

48-51

Układy komórkowe FPGA (Field Programmable Gate Arrays) o dużych i bardzo dużych pojemnościach logicznych są stosowane w wielu obszarach aplikacyjnych, w tym do zastępowania klasycznych układów ASIC (Application Specific Integrated Circuits) w aplikacjach produkcyjnych. W artykule opisano charakterystyczne cechy technologii, w których wykonywane są komórki logiczne i elementy konfiguracyjne układów FPGA produkowanych przez trzy wiodące firmy: Actel, Altera i Xilinx. Opisano rodzaje błędów, które mogą powstać w strukturach FPGA na skutek oddziaływania promieniowania jonizującego oraz wyniki ostatnio przeprowadzonych testów odporności na promieniowanie atmosferyczne dla nowych rodzin układów tych firm.

Advanced Field Programmable Logic Devices, CPLDs (Complex Programmable Logic Devices) and FPGAs (Field Programmable Gate Arrays), play important role in the industry. FPGAs with large logic densities are used in wide range of applications, among others they are replacing logic circuits and standard ASICs. In this paper, technologies of logic and configuration resources and their impact on radiation soft errors for Actel, Altera and Xilinx FPGAs are briefly described. Types of ionizing radiation inducted failures in FPGAs and some results of lately performed tests for terrestrial neutron radiation are presented. Methods of reliability in creasing for systems implemented in FPGAs are described.