Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

2 Fotowicz P.

Znaleziono wyników: 2

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: systematic effect

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Metoda randomizacji oddziaływania systematycznego i jej praktyczne zastosowanie

Fotowicz P.

Pomiary Automatyka Kontrola

2011

R. 57, nr 11

1293-1296

Przedstawiono metodę randomizacji oddziaływania systematycznego zawierającego dwie składowe, w postaci odchylenia pomiarowego i niepewności jego wyznaczenia. Oddziaływanie systematyczne tworzy zmienną losową, opisaną centrowanym rozkładem płasko-normalnym. Rozkład ten jest splotem rozkładu prostokątnego z normalnym. Dzięki temu możliwy jest łatwy opis analityczny, jak również numeryczny, przyjętego rozwiązania. Obliczenia niepewności standardowej i współczynnika rozszerzenia tak zdefiniowanej zmiennej losowej nie są skomplikowane i mogą być łatwo implementowane do praktyki metrologicznej.

The paper concerns a problem of randomization of the systematic effect being a part of the coverage interval associated with the measurement result. This effect is characterized by two components: systematic and random. The systematic component is estimated by the bias and the random component is estimated by the uncertainty associated with the bias. Taking into consideration these two components, there can be created a random variable with zero expectation and the standard deviation calculated by randomizing the systematic effect. The method of randomization of the systematic effect is based on the Flatten-Gaussian distribution. The standard uncertainty, being the basic parameter of the systematic effect, can be calculated with a simple mathematical formula, represented by (9). The numerical formula (11) can be also used for calculation of this standard uncertainty with a random generator represented by (12). The pre-sented evaluation of the uncertainty is more rational than those obtained with use of other methods, represented in literature [11-13]. It is useful for practical metrological application.

Systematic effect as a part of the coverage interval

Fotowicz P.

Metrology and Measurement Systems

2010

Vol. 17, nr 3

439-446

The paper concerns the problem of treatment of the systematic effect as a part of the coverage interval associated with the measurement result. In this case the known systematic effect is not corrected for but instead is treated as an uncertainty component. This effect is characterized by two components: systematic and random. The systematic component is estimated by the bias and the random component is estimated by the uncertainty associated with the bias. Taking into consideration these two components, a random variable can be created with zero expectation and standard deviation calculated by randomizing the systematic effect. The method of randomization of the systematic effect is based on a flatten-Gaussian distribution. The standard uncertainty, being the basic parameter of the systematic effect, may be calculated with a simple mathematical formula. The presented evaluation of uncertainty is more rational than those with the use of other methods. It is useful in practical metrological applications.