In our paper, the simulation of the ray propagation through the solid-state matrix-liquid crystal structure is described. The rays propagate at a considerable angle to the investigated structure surface. And as a result, it leads to a sharp decreasing of the efficiency coefficient of the structure and, as a consequence, a decreasing of the signal-to-noise ratio. By adjustment of the refraction coefficient and the cholesteric liquid crystal pitch can be possible to change the reflection coefficient, the bandwidth selectively reflection, thereby affecting the parameters of the primary convectors of optical sensors.
PL
W pracy opisano symulację rozchodzenia się promieni przez strukturę matryca półprzewodnikową – ciekły kryształ. Promienie te rozprzestrzeniają się pod znacznym kątem do powierzchni badanej struktury. W rezultacie prowadzi to do gwałtownego spadku współczynnika sprawności struktury, a w konsekwencji do zmniejszenia stosunku sygnału do szumu. Współczynnik załamania światła i skok cholesterycznego ciekłego kryształu, może zmieniać współczynnik odbicia, szerokość pasma selektywnie odbitego, wpływając tym samym na parametry pierwotnego przetwarzania czujników optycznych.
2
Dostęp do pełnego tekstu na zewnętrznej witrynie WWW
In this paper we describe the development of the photostimulated Kelvin Probe Force Microscopy (ps-KPFM) measurement technique allowing to perform mapping of the electrical response of the material to optical excitation. The general information concerning the principles of the measurement setup and the data acquisition procedures as well as the examples of collected data is shown. In particular, the solution allowing to perform a number of measurements according to specific protocol is here sescribed. The developed system is capable of delivering the information about the electrical properties changes due to the specific light wawelength illumination of LED’s in range from 390 nm to 940 nm as well as for the xenon lamp.
PL
W niniejszej pracy zaprezentowano konstrukcję systemu pomiarowego fotostymulowanej mikroskopii sił z sondą Kelvina (ps-KPFM), umożliwiającą mapowanie odpowiedzi elektrycznej powierzchni na pobudzenie optyczne. Przedstawiono kluczowe informacje dotyczące konstrukcji, procedur pomiarowych, jak również zaprezentowano przykłady wyników pomiarowych. Do szczególnych cech opisanego układu należy możliwość wykonywania pomiarów z wykorzystaniem wcześniej opracowanych protokołów. Zbudowany układ pomiarowy umożliwia uzyskanie informacji o optoelektrycznych właściwościach powierzchni dla pobudzenia źródłami światła LED w przedziale od 390 nm do 940 nm oraz lampą ksenonową.
This paper presents simulation results obtain using new features of extended version of the SAR/InSAR Raw Data Simulator developed by Warsaw a University of Technology, Poland. The new version of SAR/InSAR Raw Data Simulator allow for complex and realistic simulation of any scene under the radar observation. The scene can be defined using any Computer Aided Design (CAD) software to model Digital Terrain Model (DTM). It allows also use a real DTM models gathered using e.g. LIDAR systems. The main goal of developing extended version of the SAR/InSAR Raw Data Simulator, was to make a useful tool for SAR/InSAR algorithms tests a including most of phenomena accrued during real SAR acquisition (non-ideal radar platform path, shadowing effect, double and multi-bounds effect, etc.).
PL
W artykule przedstawiono wyniki symulacji uzyskanych za pomocą rozszerzonej wersji symulatora surowych danych radarowych SAR/InSAR opracowanego przez zespół z Politechniki Warszawskiej. Nowa wersja symulatora pozwala na symulowanie bardziej złożonych i realistycznych scen radarowych. Scena może być zaprojektowana przy użyciu dowolnego komputerowego oprogramowania wspomagania projektowania (CAD) do modelowania numerycznego modelu terenu (DTM). Symulator umożliwia korzystanie z prawdziwych map 3D terenu, zarejestrowanych za pomocą np. systemu LIDAR. Głównym celem opracowania nowej wersji symulatora surowych danych SAR/InSAR, było stworzenie narzędzia na potrzeby testów algorytmów SAFWInSAR w tym weryfikacji większości zjawisk zachodzących w obrazowaniu/przetwarzaniu SAR (nie idealna trajektoria platformy radarowej, efekty cieni, efekty podwójnego/wielokrotnego odbicia, itp.).
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.