PL
 |
EN
Ograniczanie wyników
Czasopisma help
  1. 1 Zeszyty Naukowe Wyższej Szkoły Informatyki
Autorzy help
  1. 1 Busłowska E.
Lata help
  1. 1 2004
Preferencje help
Polish version English version Język
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
Wyszukiwano:
w słowach kluczowych:  sygnatura testów krokowych
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
1
Transformacja usterek pamięci DRAM w błędy
Busłowska E.
Zeszyty Naukowe Wyższej Szkoły Informatyki
|
2004
|
Vol. 3, Nr 1
37-47
PL
Artykuł przedstawia wyniki badań określających zależności między typem usterki i typem testu a liczbą transformowanych błędów. Badania zostały przeprowadzone dla najczęściej używanych testów typu March i wykazują, w jaki sposób fizycznie występujące usterki są odzwierciedlane, w postaci błędów w sygnaturze testów krokowych.
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.