Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

1 Przegląd Elektrotechniczny

1 2012

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: sygnatura spektralna

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

A computer-based imaging system for multispectral inspection of skin cancer

Świtoński A., Błachowicz T., Sieroń A., Wojciechowski K.

Przegląd Elektrotechniczny

2012

R. 88, nr 12b

107-110

Multi-band imaging computer-based system, self-designed and self-constructed, based on a liquid-crystal filter with spectral transmittance driven in 400 nm - 740 nm wavelengths range is presented. Performed tests of images dimensionality reduction, which base on different types of principal component analysis, indicated onto flexibility and usefulness of the described approach for skin cancer diagnosis.

W artykule opisano samodzielnie zaprojektowany i wykonany, wspomagany komputerowo, oparty na transmisyjnym filtrze ciekłokrystalicznym pracującym w zakresie długości fal od 400 nm do 740 nm, układ do obrazowania wielospektralnego. Przeprowadzone testy redukcji wymiarowości obrazu, w oparciu o różne rodzaje analizy jego składowych głównych, wskazały na użyteczność zastosowanego podejścia w diagnostyce raka skóry. (Komputerowy system wielospektralnej analizy danych obrazowych raka skóry).