PL
 |
EN
Preferencje help
Polish version English version Język
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników

Znaleziono wyników: 7

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
Wyszukiwano:
w słowach kluczowych:  surface topography measurement
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
1
Content available Investigation of noise in surface topography measurement using structured illumination microscopy
Li Zhen, Gröger Sophie
Metrology and Measurement Systems
|
2021
|
Vol. 28, nr 4
767--779
EN
Noise is a fundamental metrological characteristic of the instrument in surface topography measurement. Therefore, measurement noise should be thoroughly studied in practical measurement to understand instrument performance and optimize measurement strategy. This paper investigates the measurement noise at different measurement settings using structured illumination microscopy. The investigation shows that the measurement noise may scatter significantly among different measurement settings. Eliminating sample tilt, selecting low vertical scanning interval and high exposure time is helpful to reduce the measurement noise. In order to estimate the influence of noise on the measurement, an approach based on metrological characteristics is proposed. The paper provides a practical guide to understanding measurement noise in a wide range of applications.
2
Content available Comparisons of envelope morphological filtering methods and various regular algorithms for surface texture analysis
Podulka Przemysław
Metrology and Measurement Systems
|
2020
|
Vol. 27, nr 2
243--263
EN
In this paper both envelope approach and morphological filters for characterisation of surface textures were proposed, applied and thoroughly examined. Obtained results were compared with those received after appliance of commonly-used algorithms. The effect of appliance of proposed procedures on surface topography parameters (from ISO 25178 standard) was taken into consideration. The following types of surface textures were assessed: two-process plateau-honed cylinder liners, plateau-honed cylinder liners with additionally burnished dimples, turned piston skirts, grinded and/or isotropic topographies. It was assumed that envelope characteristics (envelope filtration) can provide results useful for assessments of deep and/or wide oil-reservoirs especially when they are edge located. Moreover, some near-valley areas of surface texture details can be less distorted when envelope filtering is accomplished. It was also found that closing and/or opening envelope filtration can be valuable for reduction of some surface topography measurement errors.
3
Content available remote Nowoczesne metody interferencyjne w pomiarach topografii powierzchni
Łukianowicz C.
Stal, Metale & Nowe Technologie
|
2016
|
nr 9-10
153--156
PL
W artykule krótko przedstawiono dwie metody interferencyjne stosowane w dokładnych pomiarach topografii powierzchni. Są to metody interferencyjne oparte na technikach pomiaru fazy oraz na technikach wykorzystujących analizę korelacji koherencji.
EN
The paper presents two interference methods that are used in precise measurements of surface topography. These are interference methods which use the techniques of phase-shifting interferometry and coherence scanning interferometry.
4
Content available remote Wpływ metody „sklejania” powierzchni na zmianę wartości parametrów struktury geometrycznej powierzchni
Dzierwa A.
Mechanik
|
2016
|
R. 89, nr 5-6
550--551
PL
Analizie poddano kilka struktur geometrycznych powierzchni zmierzonych za pomocą interferometru Talysurf CCI Lite. Wykorzystano trzy typy obiektywów: nr 5, 10, 20. W przypadku obiektywów nr 10 i 20 dokonano sklejania powierzchni, by uzyskać identyczny obszar pomiarowy jak w przypadku obiektywu nr 5. Analizowano wpływ sklejania powierzchni na wartości parametrów SGP.
EN
Several surface topographies were analysed. Measurements were made by interferometer Talysurf CCI Lite using 3 types of lenses: 5, 10, 20. In the case of lenses 10 and 20 surfaces were stitched using software in order to get the same area as in the case of lens 5. The effect of stitching method on the surface topography parameters was studied.
5
Badania topografii powierzchni przy uzyciu mikroskopii konfokalnej
Tartakowski Z., Dudzińska S.
Dozór Techniczny
|
2016
|
z. 5
22--26
PL
Istotnym czynnikiem wpływajacym na eksploatacje czesci maszyn jest stan ich warstwy wierzchniej uzyskany z procesów obróbczych i przetwórczych. W praktyce przemysłowej do badań stanu powierzchni powszechnie używane sa profilometry stykowe. Dla dokładniejszego opisu powierzchni coraz częściej stosowana jest technika pomiarowa 3D przy użyciu chromatycznej mikroskopii konfokalnej. W pracy przedstawiono praktyczne wykorzystanie mikroskopii konfokalnej do analizy warstwy wierzchniej gniazda formy wtryskowej.
EN
One of the most important factor affecting the exploitation of the machine parts is the surface layer condition after the processes of machining and processing. In industrial practice to study the state of the surface are commonly used Profilometers pin. More frequently for a more detailed characterization of surfaces is using 3D measurement by chromatic confocal microscopy. The paper presents practical using of confocal microscopy for analysis of the surface layer of the injection mold cavity.
6
Content available Wpływ próbkowania spiralnego na parametry 3D w pomiarach topografii powierzchni
Majchrowski R., Cellary A., Wieczorowski M.
Pomiary Automatyka Kontrola
|
2007
|
R. 53, nr 9 bis
511--514
PL
W artykule przedstawiono algorytm do symulacji pomiaru topografii powierzchni metodą próbkowania spiralnego z zastosowaniem pakietu Matlab. Większość profilometrów stykowych opartych jest na zasadzie próbkowania prostokątnego, dlatego parametry przestrzenne charakteryzujące topografię powierzchni też obliczane są z siatki prostokątnej. Jest to powodem zastosowania interpolacji siatki spiralnej do siatki prostokątnej. Między innymi procedura ta wprowadza różnice pomiędzy parametrami 3D uzyskanymi z próbkowania prostokątnego, a próbkowania spiralnego. Przedstawiony algorytm został opracowany w celu zdeterminowania różnic pomiędzy parametrami uzyskanymi z siatki prostokątnej, a siatki spiralnej.
EN
In this paper, the authors present the result of simulating for surface measurement based on spiral grid using Matlab software. Most of the topography surface measurement instruments work using the parallel profiles to obtain surface texture. The novel stylus based measurement instrument that use the spiral sampling is the answer of the question of faster surface topography measurements method. The presented results of comparing three-dimensional surface parameters obtaining from simulating measurement surface based on a rectangular grid and based on a spiral grid is the first step to determine and characterize the influence of spiral sampling on surface topography parameters. It can make further possible to take this method into industry as fast surface topography measurement method based on stylus profilometer.
7
Content available remote The influence of spiral sampling on surface topography parameters : simulation analysis
Majchrowski R.
Archiwum Technologii Maszyn i Automatyzacji
|
2007
|
Vol. 27, nr 2
71-80
EN
In this paper, the author presents the result of simulating for surface measurement based on spiral grid using Matlab software. Most of the topography surface measurement instruments work using the parallel profiles to obtain surface texture. The novel stylus based measurement instrument that use the spiral sampling is the answer of the question of faster surface topography measurements method. The presented results of comparing three-dimensional surface parameters obtaining from simulating measurement surface based on a rectangular grid and based on a spiral grid is the first step to determine and characterize the influence of spiral sampling on surface topography parameters. It can make further possible to implement this method into industry as fast surface topography measurement method based on stylus profilometer.
PL
W artykule autor zaprezentowł rezultaty symulacji pomiaru topografii powierzchni z użyciem próbkowania spiralnego. Większość przyrządów do pomiaru topografii powierzchni oparta jest na pomiarze równoległych profili. Nowatorski profilometr wykorzystujący próbkowanie spiralne jest odpowiedzią na czasochłonność pomiaru stereometrii powierzchni. Prezentowane rezultaty porównania parametrów przestrzennych uzyskanych z pomiaru topografii z wykorzystaniem siatki prostokątnej i spiralnej są pierwszym krokiem do określenia i scharakteryzowania wpływu próbkowania spiralnego na parametry 3D. W przyszłości pomoże to we wprowadzeniu tej nowej metody do przemysłu jako metody szybkiego pomiaru topografii powierzchni przyrządem stykowym.
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.