Ograniczanie wyników
Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
Wyszukiwano:
w słowach kluczowych:  surface profiler film
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
PL
W pracy przedstawiono metodę pomiaru pola powierzchni z wykorzystaniem folii naciskowych oraz autorskiej aplikacji usprawniającej analizę ilościową śladu styku. Omówiono algorytm, który analizuje próbkę i na podstawie wprowadzonych parametrów szacuje wielkość pola kontaktu. W pracy przeprowadzono również badania mające na celu określenie wpływu czułości oraz rozdzielczości skanowania próbek na wartości otrzymanych pól powierzchni.
EN
The paper presents the method of measuring the surface area using surface profiler films and the authorial application, which improves the quantitative analysis of the contact trace. An algorithm is discussed that analyzes the sample and estimates the size of the contact field based on the entered parameters. The study also carried out studies to determine the impact of sensitivity and the resolution of scanning samples on the values of the surface areas obtained.
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.