Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

1 Polimery

1 2017

Powiadomienia systemowe

Sesja wygasła!

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: surface diffraction

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Effect of solvents on structural anisotropy of polyaniline thin films

Śniechowski M., Kozik T., Łużny W.

Polimery

2017

T. 62, nr 11-12

855--860

X-ray surface diffraction experiments performed on polyaniline/camphorsulfonic acid (PANI/CSA) thin films reveal high anisotropy of the five main crystalline peaks. This anisotropy is different for samples cast from m-cresol and cast from trifluoroacetic acid (TFA). Taking advantage of a recently published crystalline unit cell model, intensity distribution maps are calculated for these two types of samples. The anisotropy is in agreement with experiment, further validating the PANI/CSA model and showing that solvent molecules are not present in the unit cell.

Cienkowarstwowe, wykazujące silną anizotropię próbki polianilina/kwas kamforosulfonowy (PANI/CSA) zbadano metodą dyfrakcji powierzchniowej promieniowania rentgenowskiego. Wyniki pomiarów w geometriach: transmisyjnej, odbiciowej i pośrednich wykazały różnice między natężeniami pięciu głównych maksimów krystalicznych. Anizotropia próbek była różna w wypadku użycia różnych rozpuszczalników (m-cresol, kwas trifluorooctowy). Niedawno opublikowany model struktury PANI/CSA wykorzystano do obliczenia map natężeń, a następnie do porównań z wynikami pomiarów. Proponowany model poprawnie opisuje uporządkowanie w próbkach folii z PANI/CSA wylanych z różnych rozpuszczalników, bez konieczności uwzględniania w nim cząsteczek rozpuszczalnika. Świadczy to o tym, że cząsteczki rozpuszczalnika nie występują w strukturze PANI/CSA jako składniki komórki elementarnej.