Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

Znaleziono wyników: 2

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: surface anisotropy

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Magnetic properties of mechanically milled nanosized Mn

Wu X. J., Xu X. W., Sun X. S.

Materials Science Poland

2009

Vol. 27, No. 3

857--864

Nanosized Mn powders were fabricated by milling Mn flakes in pure ethyl alcohol followed by homogenization. XRD analysis confirms single-phase characterization of the product and shows it has a grain size of 40 nm. The ZFC and FC magnetizations exhibit a large irreversibility with onset of about 60 K. The fit of the Curie-Weiss relation indicates strong AFM interaction in the considered system. A large coercive field and shifted hysteresis loops, i.e. He = 83.6 kA/m, are observed at 5 K in the 2 T field cooling case. The analysis indicates that surface anisotropy can lead to the occurrence of large exchange bias.

Zastosowanie mikroskopii sił atomowych (AFM) w diagnostyce warstwy wierzchniej

Bramowicz M., Kłysz S.

Prace Naukowe Instytutu Technicznego Wojsk Lotniczych

2007

nr 22

159-166

W niniejszej pracy przedstawiono mikroskopię sił atomowych jako zaawansowaną metodę inżynierską, dającą szerokie możliwości w nowoczesnej kontroli jakości wysokiej klasy elementów optyki, fotoniki czy półprzewodników. Ponadto silnie zaakcentowano konieczność opisu morfologii warstwy wierzchniej poprzez podanie wymiaru fraktalnego oraz długości korelacji jako zasadniczych parametrów opisujących samopodobieństwo oraz samoafiniczność powierzchni elementów technicznych. Przytaczaną metodykę poparto badaniami eksperymentalnymi, w ramach których przeprowadzono analizę fraktalną topografii powierzchni cienkiej folii stopu Heuslera typu Ni-Mn-Ga z zastosowaniem metody RMS (Root Mean Square).

This paper introduces the Atomic Force Microscopy as an advanced engineering method that offers great potential in the modern, high-class quality control of optic, photonic, and semiconductor elements. Furthermore, what has been strongly emphasized is a real need to describe the morphology of a surface layer using the fractal parameter and the correlation length as fundamental parameters that describe self-similarity and self-affinity of surfaces of technical elements. The methodology shown in the paper is supported with some effects of experimental work, including fractal analysis of the topography of the surface of thin Ni-Mn-Ga type Heusler alloy with the Root Mean Square (RMS) method.